用新型红外测温仪观察由钨丝电子发射引起的损耗

在金属电子逸出功测定实验中,未考虑由钨丝电子发射引起的损耗,存在约-1.86%的系统误差.用新型红外测温仪可以观察到因上述损耗而出现的钨丝温度的变化,为修正该系统误差提供直接的观察依据.     

红外测温原理实验

采有经计量校准作为已知温度特性的辐射体，再用其已知特性校准相同辐射体的温度，并用微机对实验数据作回归分析，将难度较大的实验简化成基础物理综合实验，这种“替代校准法”可避开“比辐射率修正”的困难。     

在椭偏测厚中用TI——59计算器直接计算薄膜厚度

当前一些非常薄的膜层被广泛地应用于各技术领域中。因此,精确地测量薄膜厚度是一种重要的物理测量技术。其中,椭圆偏振法这种测量方法,是通过光波反射时偏振状态变化进行的;它能测很薄的膜厚(可达20A以下),测量精度很高(理论上误差可小于±10A),在各种已有的测膜厚方法中,它是能测膜厚最薄和测量精度最高的一种。但由于长期存在着数学处理上的困难与局限性,只有依靠电子计算机的发展和应用才使椭圆偏振法获得了生命力。