对美国ORTEC正电子寿命系统计数率的调试

美国ORTEC公司的正电子寿命系统采用快—快符合电路组装,和快—慢符合电路相比,具有结构简单,可使用较强的源,测谱时间短等优点。我们购置的一台ORTEC正电子寿命系统,自去年年底在上海复旦大学验收以后,较长一段时间内都在由厂方确定的工作状态下进行工作。虽然该仪器自动化性能较高,使用方便,也有较好的时间分辨率(表1中*);但是在计数率方面不理想,用10μCi的~(60)Co源测仪器的时间分辨率和用50μCi的~(22)Na点源测材料的寿命谱,测量时间都较长(表1中*,表2中RT_1)没有发挥快—快符合的优点。为此,我们又对仪器的工作状态进行了一些调试,尤其对甄别器的能窗作了多种设置,从中选出一种既能     

过电压简易报警器

1989年由世界银行贷款购入的美国ORTEC公司生产的“正电子寿命谱仪”以其探测效率高、分辨率好等优点被国内十几所高校购用。要测量到一个正电子湮没寿命谱,就必须对足够多的湮没事件(定数一般在10~3个)进行统计,一般需用4～8小时或更长,在仪器工作状态下,电压的波动是     

单色仪的定标实验中汞光谱两条谱线的补充标定

讨论了普通物理光学实验有关教材中单色仪定标实验中定标所依据的汞光谱谱线标定问题，通过实验确定了实验可以明显观察到而未能标定的谱线，对原有教材有关内容给出了必要的补充。     

POSITRONFIT程序中源修正参量的确定方法

Positronfit程序是目前国际上处理正电子寿命谱的较理想的解谱程序,该程序的功能较全,也能给出合理的结果。但是,在使用本程序过程中,我们发现也有不足之处,就是人为因素很大。因为程序中有很多参量是由使用者提供,而参量选择的好坏,对结果有影响,尤其是仪器的分辨函数相源修正参量。本文仅谈谈如何确定源修正参量的问题。一、确定源修正参量的方法在正电子湮没实验中,正电子除了绝大多数都在样品中湮没外,还有在源支撑薄膜,源晶体本身以及源与样品排列中各界面处的湮没,这些都构成了程序使用中源修正的内容。从报导正电子工作方面的文章中看到,有些根本不考虑源修正,有些笼统地说考虑了源修正,但源修正究竟是如何考虑的,未见详细说明。我们认为,要得到寿命谱好的结果,还是应该考虑源修正的。在实验中,我们找到用下面方法来确定源修正参量。