高压X光机发射谱的测量与研究

本文描述了测量高压Ｘ光机发射谱的技术,并成功地测量了１４０ｋＶ高压Ｘ光机的发射谱。研究了滤波片对Ｘ光机发射谱特性的影响,在此基础上提出了可根据不同的测试目的和条件,用不同的滤波片可形成高强度的准单能,双能等Ｘ光激发源及其可能的应用领域。     

提高高压X光机激发的XRF谱测量灵敏度的一种方法

本文通过分析高压Ｘ光机激发的Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）在线测量系统中的灵敏度低等问题的原因，提出了用准直技术提高灵敏度的方法，并设计，加工了一个内径１．５ｃｍ，长７．５ｃｍ的准直器，实验结果满意。在此基础上，对进一步改进该在线测量系统的性能进行了讨论。     

一种校正XRF光谱基体吸收效应的新方法

根据校正XRF光谱基体吸收效应的基本理论,提出了一种用基本参数法校正基体吸收效应的新方法,该法既不需要标准,又对样品和衬底靶无特别要求,仅用一些基本的物理参数(ω,J,τ)和荧光强度的测量值便可算得样品中待分析元素的含量,方便简单。用岩石标准SY-2,SY-3和MRG-1检验该法,其结果与文献报道的值相符。