基于边界扫描技术的测试性优化方法研究

针对基于边界扫描测试技术对集成电路测试复杂的问题,提出了贪婪算法和图的色素理论算法;贪婪算法是指在测试网络与器件之间建立一个矩阵模型,通过局部最优解来寻找全局最优解的一种算法;图的色素理论是借助图的色数理论和技术,通过图形绘制网络与器件的关系,从中寻找最少着色方案的一种算法;实验结果表明,贪婪算法和图的色素理论两种算法的应用都能够较好地解决电路板测试性复杂性和测试性完备性问题,具有很强的实用性,可用于复杂数字电路板测试。