镀金层识别及其厚度测定的X—荧光强度比值法

利用Ａｕ原子在Ｘ射线激发下所发射的Ｌβ线和Ｍ线的强度比值识别样品是镀金还是Ｋ金，同时利用这个比值测定镀金层的厚度，镀金层厚度的测定范围为０～４μｍ，测定值与标定值的相对误差小于１５％。     

XRF法测定铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu和Ni

本文利用XRF金标样的多元素回归方程，对Pt、Pd的荧光强度进行修正，修正后的荧光强度当作Au、Ag的荧光强度代入回归方程中，利用计算机编程计算铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu、Ni等6种元素的含量。PT的测定范围为85%-99.92%时，该法测定的准确度优于0.5%，具有无损、快速、准确、可靠等优点。     

黄金饰品中金含量的X－荧光能谱分析

应用Ｘ－荧光能谱分析（ＥＤ－ＸＲＦ）和新的定量分析软件测定了２６个黄金标样，研究了饰品形状的影响，不同方法，不同实验室测试结果的比对，表明在所选的工作条件下样品形状无明显影响。方法可靠、快速、简便，非破坏性，适于常规、批量分析。Ａｕ含量≥９９％时，分析误差≤０．１５％，精密度≤０．１％；金含量９０％～９９％时，分析误差和精密度≤０．２％；金含量７５％～９０％和＜７５％时，分析误差分别≤０．４％和０．５％，精密度均≤０．２％；Ａｇ、Ｃｕ和Ｚｎ的分析误差均≤０．５％，精密度≤０．２％。少标样基本参数法和多标样回归法的结果一致，在实用上有重要意义，十分有利于ＥＤ－ＸＲＦ的推广应用。