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化学镀非晶态Ni-P镀层的结合强度研究   总被引:10,自引:0,他引:10  
四点弯曲法与声发射相结合,用于测定化学镀Ni-P镀层与基体的结合强度.实验结果与复合板模型的计算相一致.所测得的声发射曲线与镀层失效的外貌有关,凸起形(即鼓包)镀层失效对应于附着失效,横向裂纹失效对应于镀层的内聚失效.  相似文献   
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