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动电法研究磺化聚醚砜纳滤膜界面电现象 总被引：1，自引：0，他引：1
采用动电法对表面具有功能基团解离的磺化聚醚砜纳滤膜(NTR-7450)界面电现象进行探索。其中,在Zeta电位测试过程中引入相关措施,例如采用电化学工作站测定体系总电导(膜体电导、膜表面电导和电解质溶液电导)和变化流道高度等,以便获得更为真实的Zeta电位,进而根据Gouy-Chapman双电层模型系统地考察了离子强度、阴离子种类(KCl,K2SO4和K3PO4)对膜表面荷电性能的影响。实验结果表明,在较低浓度(0.1～0.5mmol/L)电解质溶液中,磺酸基的解离是NTR-7450纳滤膜荷电的主要原因;而在较高浓度下(1.0～10mmol/L),NTR-7450纳滤膜荷电则是由特性吸附引起,并且膜体积电荷密度与电解质溶液浓度之间符合Freundlich吸附等温式:在KCl,K2SO4和K3PO4溶液中分别为:ln|X|(mmol/L)=2.3337+0.772lnC(mmol/L),ln|X|(mmol/L)=3.584+1.119lnC(mmol/L)和ln|X|(mmol/L)=2.988+1.067lnC(mmol/L)。 相似文献
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以DK膜为研究对象,以透过式流动电位测试系统为分析手段,采用动电法研究聚酰胺类纳滤膜的界面电现象。根据Helmholtz-Smoluchowski方程和Gouy-Chapman模型系统地考察了电解质溶液浓度和离子种类、价态等因素对膜ζ电位和电荷密度的影响。研究发现,在一定浓度范围内,DK型纳滤膜的电荷密度与电解质溶液浓度之间符合Freundlich吸附等温式,其中对于Na2SO4溶液:ln|σ|(mC/m2)=2.436 0.505lnC(mol/m3);对于MgSO4溶液:ln|σ|(mC/m2)=-0.539 1.412lnC(mol/m3);对于KCl溶液:ln|σ|(mC/m2)=-0.140 0.280lnC(mol/m3);对于CaCl2溶液:ln|σ|(mC/m2)=-2.287 1.105lnC(mol/m3)。结果表明,电解质溶液中阴离子的特性吸附是聚酰胺类纳滤膜荷电现象产生的主要原因。 相似文献
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