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1.
在锆中铪光谱分析中,背景严重地影响分析结果,特别是在低含量部分引起极大的误差,通常要进行扣除。本文以锆中铪分析为例,讨论背景的影响及其扣除方法。背景的影响由定量分析基本公式可知,lgR=lgI_L/(I_(L′))=blgc+lga…(1)。式中I_L与I_(L′)分别为分析线(铪)和内标线(锆)强度,c为分析元素(铪)含量,a,b为与试验对象和条件有关的常数。当I_L上有背景(I_B)迭加时,测得迭加有背景的分析线强度I_(L+B)=I_L+I_B;当I_(L′)上有背景(I_(B′)迭加时,测得迭加有背景的内标线强度I_(L+B′)=I_(L′)+I_(B′)。经计算简化得:  相似文献   
2.
在发射光谱分析中,钙锶钡盐类常用作缓冲剂,但应用于二氧化钛光谱分析并不多见。本文在锶锌基缓冲剂应用的基础上,研究了碳酸钙、氧化锌、氟化钠组成的混合缓冲剂测定二氧化钛中多种杂质元素的方法。本法可用中型或光栅摄谱仪,将试样直接压入电极中即可摄谱。能同时测定银、砷、铝、硼、铍、  相似文献   
3.
钛的发射光谱分析方法虽然不少,但其中难挥发杂质元素的联合测定尚嫌不足。为此,本文在参阅有关文献的基础上,研究了在台阶孔穴电极中部分钡盐和氟化物的缓冲作用,通过普通型和杯型电极的观测比较,以含BaF_2的碳粉作缓冲剂,采用台阶孔穴杯型电极测定为佳。仪器与工作条件色散率为3埃/毫米的平面光栅摄谱仪,三透镜照明系统,狭缝20微米,遮光板5毫米。直流电弧,15安,阳极激发。预燃40秒,曝光60秒。上电极为锥形,下电极为台阶孔穴(上孔φ4×2.5×0.6,下孔φ2×1×1.6),粗颈(φ4×4)杯。天  相似文献   
4.
一、方法概述钛白中三十余种微量杂质元素的光谱测定目前尚属少见,笔者为此进行了较长时间的探索和试验。通过对钙锶钡盐类与氧化铝、氧化锌、二氧化硅、石墨粉、硫粉、铜粉组成的混合缓冲剂的观测,在现有条件的基础上,采用含有氟化钠的锶锌基缓冲剂,在光栅摄谱仪上获得了令人满意的效果。本文着重探讨了锶锌基缓冲剂的作用和该缓冲剂中钠(钾)盐对分析元素的影响。  相似文献   
5.
陶长嘉 《光谱实验室》1990,7(4):106-112,101
  相似文献   
6.
测定铪中杂质元素的光谱分析方法报道甚少,国内多采用氯化银载体法。工厂日常分析似嫌不便。本试验用焦磷酸钠作载体,试样直接压入普通电极孔穴,经长期配合生产令人满意。测定下限为Al、Co、Cr、Mn、Mo、Pb、Sn、V 0.0005%、Fe、Mg、Ni、Ti 0.001%、Cu.0.003%、单次测定均方误差  相似文献   
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