ICP-AES中基体连续辐射背景的研究——Ⅱ.不同基体浓度下操作条件对连续辐射强度的影响

引言在本系列研究的第Ⅰ部分,我们已对ICP中基体连续辐射的一些性质进行了研究。与Ar连续辐射一样,基体连续辐射强度对电子密度n_c和离子密度n_(M~+)的变化是十分敏感的,与n_c和n_(M~+)成正比,而与T~(1/2)成反比,因为溫度高,电子动能大,要改变其运动形式或运动速度比较困难,因此辐射强度较弱。改变ICP—AES的操作条件因而改变n_c、n_(M~+)、T_e的分布都会导致连续辐射强度的变化。因为ICP是一个空间分布特征不均匀的热、电系统、n_c、n_(M~+)、T_e的空间分     

ICP-AES中三种进样方式对基体干扰影响研究

本文介绍了ICP-AES中基体干扰的研究工作,主要是通过比较流动注射、蠕动泵、气动提升三种进样方法的酸效应和化学干扰的特点和程度,发现蠕动泵进样法的酸效应仍相当严重,流动注射进样法的酸效应干扰比蠕动泵进样法轻得多。另方面,三种进样法的化学干扰特点很相似。由此结果对ICP-AES中基体干扰的机理作了初步探讨,并得到了一些新结论。     

计算机差谱法消除ICP－AES中光谱干扰

本文提出了在光电二极管阵列检测器－ＩＣＰ－ＡＥＳ与微机处理的联机系统中，采用差谱法以直接消除光谱干扰的方法。详细讨论了差谱原理，差谱程序及差谱效果。应用差谱法测定了两个参考样品，结果符合要求。     

流动注射梯度技术-广义标准加入法校正ICP-AES测定中的干扰

提出了流动注射梯度技术和广义标准加入法用于校正ICP-AES测定中的基体和光谱干扰,该方法只需配制待测元素的一个标准溶液就可获得GSAM方法中所需要的信息.详细讨论了载流流速、延迟时间等操作参数的选择并分析了两个合成试样、铜合金和钢铁试样中的锌、锰和砷,相对标准偏差在0.5～1.9%之间.     

PDA－ICP－AES中光谱干扰校正的卡尔曼滤波法研究

本实验采用光电二极管阵列（ＰＤＡ）检测器消除波长定位误差、并藉平滑处理原始光谱图以减轻随机噪声影响，研究了卡尔曼滤波法在ＰＤＡ－ＩＣＰ－ＡＥＳ中光谱干扰校正方面的应用，探讨了影响滤波结果准确性的若干因素。藉此法分析了一些合成试样，回收率一般为９０％～１１０％。     

氢化物发生ICP-AES测定各种形态砷

本文研究了用萃取分离环境样品中的有机砷和无机砷,用氢化物发生ICP-AES法测定的方法。As(Ⅲ)、As(Ⅴ)、DMA、MMA检测限在0.6～0.8ppb之间。各形态砷的浓度在1ppb～10ppm之间时工作曲线呈良好线性关系,相对标准偏差为1.4～2.2%。     

内标法在ICP－AES中的应用研究──Ⅰ．信号的相关性与精密度的改善

本文介绍了选择一系列具有不同物理性质的元素谱线来研究分析元素与内标元素间的内在联系。分别研究了背景之间、各谱线的信号与背景之间、分析信号与内标线信号之间的相关性。结果表明，只有当连续辐射背景较强时前两者才有较高的相关性。采用分析线信号与内标线的信号比可提高分析精密度，而内标元素的物理性质不必与分析元素的相匹配。同时详细分析了信号和背景波动的机制。     

应用正交设计—广义标准加入法扣除电感耦合等离子体发射光谱分析中的干扰

自从电感耦合等离子体发射光谱分析获得成功的文章发表以来,这一技术在地质、冶金、农业,生物和环境科学中已迅速地成为一种有力的分析工具。然而,现已表明它也存在各种形式的干扰。对于组成复杂的样品,共存物浓度的变化往往引起背景水平的变化。在许多例子中,共存组分的光谱线和带光谱对分析线的光谱重叠会使背景信号产生移动,另外,各种形式的杂散光也会使背景信号发生移动,由于这些干扰的存在,在测定复杂基体样品中的痕量元素时,很难选