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能量色散-X荧光能谱法同时测定工业硅中铝钙铁硅 总被引:1,自引:0,他引:1
郭庆斌 《理化检验(化学分册)》2003,39(11):665-666
研究了能量色散 X荧光法测定工业硅的方法 ,提出以硼酸作外壳 ,粉末直接压片测定 ,应用于实际测定 ,速度快、准确度高 ,与国家标准方法比较 ,无显著性差异 相似文献
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郭庆斌 《理化检验(化学分册)》2003,39(11):665-666,688
研究了能量色散-X荧光法测定工业硅的方法,提出以硼酸作外壳,粉末直接压片测定,应用于实际测定,速度快、准确度高,与国家标准方法比较,无显著性差异。 相似文献
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