X光荧光光谱中影响系数的自洽校正法测定及应用

在X光荧光光谱分析中,经验系数法的元素间的影响系数α_(ij)一般是在二元体系中求得的,这有两个缺点(1)费时;(2)二元体系的α_(ij)用于多元体系,要引入误差。 R.Tertian在1979年对他提出自洽校正方法进行了改进。本文又对R.Tertian的方法加以改进,使得用n+3个标样,测n(n+3)次强度值,可得到n(n-1)个α_(ij)系数。     

用高分辨率电感耦合等离子体-原子发射光谱仪测定高纯铬中的杂质元素

本文报道了高分辨率、高灵敏度的顺序扫描型电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICPS-8100)在高纯物质分析中的应用。对元素分析线进行优化选择;采用轴向观测方式,对高纯铬中μg/g级的杂质元素As、Sn、Sb、Pb进行直接同时测定,分析结果令人满意。