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Stacking fault energy and stacking fault nucleation energy are defined in terms of the physical nature of stacking faults and stacking fault energy, and the measuring basis for stacking fault energy. Large quantities of experimental results are processed with the aid of a computer and an expression for calculating stacking fault energy has been obtained as γ300SF(mJ·m-2)=γ0SF+1.59Ni-1.34Mn+0.06Mn2-1.75Cr+0.01Cr2+15.21Mo-5.59Si-60.69(C+1.2N)1/2 + 26.27(C+1.2N)(Cr+Mn+Mo)1/2+0.61[Ni·(Cr+Mn)]1/2. 相似文献
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利用光照引发的光化学变化,作为一种通过宏观手段向微观系统提供能量和外加刺激的理想手段,在分子自组装研究中起到了重要的作用.通过光化学变化可以实现对分子自组装结构从分子结构到微观结构,再到宏观性质的多层级调控.反之,通过其他手段调节聚集体的组装结构和分子排列,也可以控制改变聚集体的发光情况.此外,分子荧光探针为认识纳米尺度的分子自组装结构的微观环境提供了有力的支持,是研究自组装结构中不可取代的重要表征手段.本文就光化学手段对分子自组装结构的调控与探测,以及自组装结构对发光分子的光学性质的影响等方面进行了介绍. 相似文献
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