耐蚀自控的反相分配色层柱

反相分配色层是化学光谱分析常用的使铀与微量杂质元素分离的方法之一。由于它具有多个色层柱能同时工作、杂质能定量分离、操作非常简便和节省试剂等优点而为广大光谱分析工作者所经常使用。但是,以往用的玻璃和石英色层柱,透明度好,但不耐氢氟酸腐蚀;而聚乙烯和聚丙烯色层柱耐氢氟酸腐蚀,透明度却又欠佳。此外,也存在柱子易流空和不能方便地自控淋洗体积等问题。为了解决上述问题,从1980年始,我们采用透明度好又耐氢氟酸腐蚀的有机玻璃色层柱。这样的色层柱,装上TEHP[磷酸三辛酯-Kel-F(聚三氟氯乙     

端视ICP-AES测定铀化合物中的40种微量杂质元素

核燃料的广泛应用,要求对各种铀化合物中多至数十种微量金属和非金属杂质元素进行准确测定。目前,在国内完成此项任务,均采用多种分析规程;就美国ASTM标准而言,也应用数种分析方法。无疑,对日常分析,方法越多,越感麻烦。因此,建立统一的,能一次同时测定多至40种微量杂质元素的光谱分析方法是非常必要的。而分配色层技术和ICP-     

端视ICP-AES测定铀化合物中的40种微量杂质元素

本文叙述一种用TEHP(磷酸三辛酯)—Kel-F(聚三氟氯乙烯粉)反相分配色层使铀与微量杂质元素分离,用端视ICP—AES测定多种铀化合物中共计40种微量杂质元素的分析方法。该方法,在取样200mg和选定的端视ICP条件下,能一次同时测定40个元素。在重加回收中,除Ta和Mo的回收率稍差外,其余元素的回收率是84—118%,大多数元素的测定精密度(RSD)<±10%,考核结果令人满意,实际样品分析与其它方法分析结果基本相符。并作了Fe、Na、Ca的干扰实验。     

ICP-AES法测定硝酸铀酰中的微量杂质元素

据有关文献报导,发射光谱法分析铀化合物中的微量杂质元素,在国内外,一般多采用载体蒸馏法、蒸发法和化学光谱法。前两种方法,六十年代在国内颇为盛行,现已满足不了生产要求,只有化学光谱法的研究仍在深入。该方法由于已将具有放射性的大量铀分离掉,既避免了放射性对人体的损害,又除去了大量铀线对分析线的干扰,降低了杂质元素的检出限。但是,化学光谱法,手续繁杂,误差较大;同时抗干扰能力较差。 ICP-AES法测定铀化合物中的微量杂质元素正可保持其优点克服其缺点。本方法,