基于激光三维扫描的gamma谱仪无源效率刻度方法的应用技术研究

对基于激光三维扫描的谱无源效率刻度方法在分析不同密度和形状样品的应用开展了研究。首先利用点源对高纯锗探测器进行表征,应用激光三维扫描仪对不同容器扫描建模,在无源效率刻度软件中调用相应的参数库和样品相应形状的三维模型,采用数值积分方法计算出不同能量下的探测效率。在几种不同形状的容器中装入已知放射性活度的样品,在被表征的高纯锗谱仪上进行测量,应用计算出的效率值分别处理分析得出样品中所含标准物质的活度值。结果表明在分析天然放射性核素时,测量值与标准物质证书给定值相对偏差不大于10%。因此,基于激光三维扫描的谱无源效率刻度方法,在可接受的测量不确定度下,现实工作中可用于不能被破坏、不规则样品的测量分析工作中。     

积分中值定理在放射性氙样品γ谱效率刻度技术中的应用

在实验室HPGe探测器测量分析氙气样品过程中需要用到相对方法进行分析, 然而由于放射性氙同位素半衰期较短, 制作相应的标准气体比较难, 给谱仪系统刻度带来困难.针对该问题, 提出使用混合面源模拟刻度四种氙同位素气体源的效率, 并提出将积分中值定理应用到面源刻度实验过程, 大大简化了中间流程, 提高了测量的准确性.利用氙分离纯化系统在高氡环境下采集样品, 获得了天然放射性¹³³Xe气体γ谱, 通过计算得到其活度浓度. 积分中值位置处的混合面源刻度结果和气体源刻度结果一致, 说明本文提出的面源刻度技术及积分中值定理的思想在HPGe 探测器效率刻度测量分析中是有效可行的. 关键词： 面源 无源效率刻度软件 效率刻度