Al_x Ga_(1-x) As二次离子质谱定量分析

本文提出了一种用二次离子质谱(SIMS)测定Al_x Ga_(1-x)As薄膜样品成分的定量分析方法,通过对一组标样用线性回归法定标和迭代法定量计算,对不同能量下得到的数据进行统计分析表明,用SIMS方法测定的组份X值与用电子探针测定的结果之间的均方根误差只有8.7。本文还对影响SIMS定量分析精度的某些实验因素作了探讨。并给出了估算Al组分的I(Al~+)/sum from j=1 to nI(M_j~+)～C_(Al)图。原则上本法也同样适用于其它多组分均匀样品的SIMS定量分析。     

LiF-KCl熔盐溶液的Monte Carlo法计算机模拟研究 II: 熔体结构与物性的关系

本文用Monte Carlo法对互易盐系LiF-KCl熔盐溶液的局部结构作了计算机模拟。计算了该熔盐溶液的总势能和势能分布。在1200K模拟温度下, 该熔盐溶液中大部份离子组成各种形式的离子团。根据模拟的互易盐系熔盐溶液模型, 讨论了熔体局部结构和物性之间的关系。