铈中微量镧、镨、钕与钇的光谱测定

本工作报告铈中杂质镧、镨,钕及钇的两种光谱测定方法。(1)将试样的氯化物溶液滴于经液体石腊处理过的碳电极上,干燥后以交流电弧激发进行摄谱。采用线对 La 4333.74/Ce 43330.90,Pr 4225.33/Ce4229.63,Nd 4061.09/Ce 4057.30及Y 4374.94/Ce 4376.88时测定灵敏度分别可达0.055％,0.089％,0.052％,0.025％。单次摄谱的均方误差分别为±4.7％,±10.8％,±7.0％及±7.0％。 (2)对于较纯的铈,则采用乙醚萃取先行分离,以浓缩其中所含的杂质,并采用谱线较少的元素钇作内标及载体,以补偿分离过程中损失。浓缩物仍以氯化物溶液状态用上述的激发方法进行摄谱。采用下列线对: La 4238.38/Y 4235.73,La 3988.52/Y 3951.60,Pr 4222.98/Y 4235.73,Nd 4232.38/Y 4235.73取样100毫克时,镧、镨及钕的测定灵敏度分别可达0,01％;0.025％及0.028％。一般误差约在±10％左右。     

氢化物-原子荧光法测定高纯铜中硒和碲

本文研究了Fe(OH)_3共沉淀和分离纯铜中Se和Te的条件。实验结果表明,Fe(OH)_3不仅是Se和Te的共沉淀剂而且是Cu,Bi等干扰元素的抑制剂,利用Fe(OH)_3能够定量地共沉淀Se和Te,此时残余量Cu可降至不影响Se和Te的极限以下。从而成功地解决了用氢化物-原子荧光法对纯铜中痕量Se,Te的测定。本法操作简便、快速。Se,Te的测定灵敏度可达10~(-5)％以下,回收率一般均在85～102％之间。     

氢化物-原子荧光法测定硒时元素的干扰及其消除

(一)引言在环保工作中具有重要意义的硒,通常用氢化物-原子荧光法测定。关于测定硒时其他元素的干扰及其消除已有一些报导,但其机理尚不清楚,以致干扰元素的允许存在量较低。本文根据元素干扰的可能机理,提出了一种较为方便的消除干扰方法,从而使一些元素,例如铜的允许存在量比文献报导的增加很多,而对Pd~(2+),As~(3+)和Bi~(3+)等元素的干扰也有较好的抑制作用。 (二)实验方法的考虑 1.如果把氢化物-原子荧光法中的主要反应分为三步:(1)水相中待测元素的被还原     

超纯物质分析

一、引言近代科学技术发展的基本趋势,在于对许多新物质材料的应用,其中对超纯物质的质量问题亦不断提出一系列高的要求。喷气技术所需要的高温材料,对纯金属的要求比较平凡,无论在稀有金属或普通金属中,每种有害杂质含量限于1·10~(-4)％。原子能工业的发展是近代超纯物质的主要推动力,它对中子截面大的有害杂质不能超过10~(-4)—10~(-6)％。对超纯物质要求最严格的是半导体技术材料。它为了保证电子学、电工学、远距离控制、自动化及其它新技术的特殊性能,提出了杂质的含量,要求分析方法灵敏度在10~(-6)—10~(-8)％,个别为10~(-9)％。这不仅对半