感应耦合等离子体发射光谱法测定氮化硼和氧化镧中的痕量元素

感应耦合等离子体(ICP)的出现,可誉为原子发射光谱分析法的一次重大突破。它具有灵敏度高、准确度好、干扰少、测定范围广等特点,因而获得了广泛的应用。ICP的溶液进样方式有去溶和不去溶两种。前者检出极限比后者更低,但共存元素和酸度对测定的影响却比后者敏感。因此前者适合于高纯试样经基体分离后进行测定,后者适合于试样的直接测定。根据上述特点,本文将去溶ICP应用于高纯氮化硼中痕量杂质的测定。在高压     

感应耦合高频等离子体发射光谱分析的研究与应用

感应耦合高频等离子体(ICP)最初是Reed于1961年开始研究的,他在研究大气压力下维持电离气体(等离子体)的新方法时,根据感应加热的原理使等离子体感应产生高频涡流.1964年Greenfield等把等离子体作为激发光源首先应用于发射光谱分析.不久Wendt和Fassel也报道了他们的研究情况.高频等离子体光源的出现,由于它具有无可比拟的优点,使发射光谱的发展获得了新生,被广泛应用于化工、地质、冶金、材料以及环保分析中.