粉末压片—X射线荧光光谱法测定土壤中的铜铅锌砷锑钴铬镍等重金属元素

采用粉末压片法制样,使用ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱仪,对土壤样品中与生命健康和环境污染有直接影响的重金属元素Cu、Pb、Zn、As、Sb、Co、Cr、Ni进行同时测定.选用土壤国家标准物质、以国家标准物质为基体自制校准物质绘制标准曲线,解决了相关标准不足的问题,拓宽了元素测定范围(10~20 000μg/g),重点探讨了As、Sb的测量条件.虽然As、Sb的检出限和准确测定下限较高,但对于土壤质量的评价有重要的参考意义.方法快速、简便、准确.     

ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪流气式正比探测器常见故障处理与维护

总结了日本理学ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪流气式正比探测器在使用过程中出现的常见故障,介绍了简单实用的排除处理方法.     

X射线荧光光谱法同时快速测定锑矿石中伴生及有害元素

采用粉末压片制样,波长色散型X射线荧光光谱法测定锑矿石中9个次量伴生及有害元素Cu、Pb、Zn、As、Co、Ni、W、Ba、S.选用国家标准物质和人工合成标准参考物质建立校准工作曲线,采用经验系数法和散射线内标法校正基体效应和元素重叠干扰.方法的检出限低、精密度(RSD,n=12)小于5%,测定结果与参考值或化学值一致性良好.与化学法相比,操作简单、快速、准确度高,精密度好,有效解决化学法在锑矿石伴生、有害等微量组分分析中过程烦琐、干扰严重等问题.     

ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪故障处理与维护

介绍了日本理学ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪使用中所出现的几例故障现象,对其产生的原因进行了分析,归纳总结了故障排除的方法与过程。     

标准化α系数在X荧光光谱分析中的应用

通过一系列实验发现：在X荧光光谱分析中，在一定的准确度要求下，调整α系数可以消除因仪器性能变化所带来的影响，该方法简单、快速。     

3080E3型X射线荧光光谱仪故障排除方法

介绍了3080E3型X荧光光谱仪几例故障及排除方法。     

WPP2型平面光栅摄谱仪常见故障及维护

简要介绍了WPP2型平面光栅摄谱仪常见故障现象,对故障产生的原因进行了分析,归纳总结了故障排除的方法与过程.     

X射线荧光光谱法同时快速测定多金属矿样品中的铜、铅、锌、钼、钨和硫等元素

粉末压片法制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus X射线荧光光谱仪对多金属矿样品中、低含量的铜、铅、锌、钼、钨和硫等元素同时进行快速测定,方法的测试范围为:Cu:0.0030%—5.00%;Pb:0.0050%—5.00%;Zn:0.010%—5.00%;Mo:0.0030%—1.50%;W:0.005%—2.00%;S:0.010%—10.00%。方法测定值与标准值、ICP-OES/MS、比色分析、红外碳硫分析数据基本吻合,可满足实验室对多种多金属矿石批量检测的要求。     

X射线荧光光谱法测定多金属矿石中的铜和钼

采用粉末压片法制样,以经验a系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱仪对多金属矿石样品中的Cu、Mo进行了快速测试.经国家一级标准物质验证,精密度好,准确度高;用不同方法进行验证,结果满意;经过不同实验室检验其结果符合DZ/T0130-2006规定的质量要求.     

X射线荧光光谱法测定黏土中的主次组分

采用熔融玻璃片制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对黏土样品中的Al₂O₃、SiO₂、Fe₂O₃、CaO、MgO、K₂O、Na₂O、MnO、P₂O₅、TiO₂、Cu、Cr等组分进行测定,分析结果与标准值和化学值相吻合,12次测定的相对标准偏差小于10%.