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对托卡马克装置内壁产生巨大电磁力是等离子体破裂重要和直接的影响, 这会对装置的安全运行造成巨大威胁. 等离子体破裂期间电流猝灭率不仅与真空室内第一壁的负载设计有关, 并且与装置重大部件的设计也相关. 本文选用100%-40%区间统计研究等离子体破裂现象. 分析结果表明: 100%-40%区间统计下HL-2A上最小电流猝灭时间为0.7 ms, 对应的最小面积归一化电流淬灭时间为1.4 ms m-2. 瞬时最大电流猝灭率与平均电流猝灭率的比值大部分都大于1. 相似文献
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托卡马克装置上电磁负载大小值与破裂期间电流猝灭特征有密切的关系.电流猝灭特征包括电流猝灭波形以及电流猝灭率等，它将在一定程度上决定装置的寿命.本文选取100%-40%, 90%-10%, 80%-20%三个区间分析了HL-2A装置上等离子体破裂现象，得到三个不同区间下电流猝灭参数范围.对比分析结果表明：在相同定义下，利用100%-40%和80%-20%区间得到的平均电流猝灭时间以及电流猝灭率分布差异最小.除了80%-20%区间外，100%-40%区间也可作为提供最大线性平均等离子体电流猝灭速率近似的适合区间. 相似文献
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