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1.
Si基沉积ZnO薄膜的光谱特性   总被引:20,自引:7,他引:13  
利用同步辐射真空紫外光研究了Si基沉积ZnO薄膜的发射光谱、激发光谱及其湿度依赖。首次观测到高于ZnO禁带宽度的发射带(290nm),并初步指定其来源。  相似文献
2.
同步辐射硬x射线衍射增强成像新进展   总被引:16,自引:0,他引:16       下载免费PDF全文
对于相位衬度成像的实验方法研究及其在医学、材料等领域的应用研究已成为国际上研究的热点.衍射增强成像方法(DEI)作为其中的一种方法通过测量相位衬度的一阶导数而成像.在北京同步辐射装置(BSRF)4W1A束线上,对衍射增强成像方法进行了研究,并对一系列生物医学样品及材料样品成像,得到了非常清晰的相位衬度图像.  相似文献
3.
高压下的同步辐射能量色散粉末衍射   总被引:15,自引:6,他引:9       下载免费PDF全文
 同步辐射已经成为高压研究的一个非常理想的光源。在北京同步辐射装置(BSRF)上、结合金刚石对顶砧超高压实验技术建立起来的能量色散X射线粉末衍射系统,已用于物质状态方程和结构相变的研究。介绍了能量色散衍射方法,以及同步辐射原位测试过程。  相似文献
4.
北京同步辐射装置上的位相衬度成像   总被引:13,自引:3,他引:10       下载免费PDF全文
在北京同步辐射装置上首次用位相衬度成像方法对生物样品和复合材料进行研究,得到了非常清晰而精细的材料内部细观结构.其图像的清晰度和分辨率明显地优于吸收衬度成像  相似文献
5.
石墨炉原子吸收法测定饮料中硒   总被引:10,自引:0,他引:10  
本文采用Pd(NO3)2-TriotnX-100作硒的改进剂,使Se的允许灰化温度提高到1200℃吸光度提高到2.92倍,用塞曼效应校正背景,有效地克服,P和Fe等的光谱干扰,此法检测限为8.0ng/mL线性范围为10-120ng/mL,线性相关系数为r=0.9931。  相似文献
6.
X射线相位衬度成像   总被引:9,自引:0,他引:9  
朱佩平  吴自玉 《物理》2007,36(6):443-451
文章使用形象、生动、通俗、易懂的语言,介绍X射线相位衬度成像的基本概念,物理思想和方法,其中包括X射线的基本性质、光的波粒二象性、同步辐射X射线光源和常规非相干X射线光源的相位相干性,以及X射线相位衬度成像方法、三维成像的基本原理和相位衬度成像的最新进展,将抽象的相位、相位一阶导数和相位二阶导数概念与形象的光波阵面平移、倾斜和弯曲等形变联系在一起,着重介绍相位衬度成像发展中的创新思想,力图使读者能分享人类文明在这个学科发展中积累的精神财富.  相似文献
7.
软X光平面镜反射率标定实验   总被引:9,自引:3,他引:6  
报道了掠入射软X光平面镜反射率标定实验。实验利用北京同步辐射装置 (BSRF) 3W 1B束线及反射率计靶室 ,在束流 35mA~ 110mA、贮存环电子能量 2GeV专用光运行模式下 ,在 5 0eV~ 85 0eV能区分四个能段 ,进行了 5°掠入射Ni平面镜反射率标定实验。标定过程中用高灵敏度无死层的硅光二极管代替X射线二极管作探测器 ,输出信号提高 2~ 3个量级 ,可标定能区从 15 0eV~ 2 70eV拓展到 5 0eV~ 85 0eV ,给出了完整的 5°Ni平面镜反射率标定曲线。最后把实验数据与理论计算作了比对并进行了分析。  相似文献
8.
ZnO薄膜的特殊光谱性质及其机理   总被引:9,自引:1,他引:8  
以同步辐射真空紫外光(195nm)为激发源,在低温下观察到Si基衬底上ZnO薄膜的发光有三种紫外发射,其峰值波长分别为380,369.5,290nm。它们各自具有不同的衰减时间和不同的温度依赖关系,但其激发谱相同。强激发带不在近紫外区,而在真空紫外区(100~200nm),可能源于ZnO的下价带(Zn3d组态)电子的激发。对三种紫外发射的来源作了分析讨论。  相似文献
9.
两块晶体衍射增强成像方法研究   总被引:7,自引:0,他引:7       下载免费PDF全文
在北京同步辐射装置4W1A光束线形貌学实验站用两块晶体开展了衍射增强成像方法的实验和理论研究.研究了晶体热膨胀对两块晶体衍射增强成像的影响,分析的结论表明,晶体转轴垂直于同步辐射偏振面能基本避免晶体热膨胀的影响,获得较好的成像质量.实验结果证实了分析的正确性.  相似文献
10.
北京同步辐射3B3中能束线X射线探测系统性能研究   总被引:6,自引:0,他引:6       下载免费PDF全文
北京同步辐射装置(BSRF)的3B3中能束线的应用,在国内首次提供了一台能区在2—6keV范围、性能优良的单色X射线光源. 对光源的性能进行了研究,并完成了X射线探测器(XRD)灵敏度、滤片厚度、多种晶体衍射效率以及成像板能量响应等指标的标定.XRD标定的相对不确定度好于7%,滤片厚度的不确定度小于3.6%.  相似文献
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