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分别在室温(25℃)和高温(300℃)下,通过X射线衍射实验对MgF2和SrF2晶体进行了晶体结构的检测.利用基于Rietveld精修方法的RIETAN-2000程序对所得实验结果进行了解析,精修了MgF2和SrF2晶体在不同温度下的各晶体结构参数,获得了原子各向同性温度因子B.通过Maximum Entropy Meth-od ( MEM)解析得到了MgF2和SrF2晶体的等高电子密度分布图谱,实现了电子密度分布的可视化.  相似文献
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分别在室温(25℃)和高温(300℃)下,通过X射线衍射实验对MgF2和SrF2晶体进行了晶体结构的检测。利用基于Rietveld精修方法的RIETAN-2000程序对所得实验结果进行了解析,精修了MgF2和SrF2晶体在不同温度下的各晶体结构参数,获得了原子各向同性温度因子B。通过Maximum Entropy Method (MEM) 解析得到了MgF2和SrF2晶体的等高电子密度分布图谱,实现了电子密度分布的可视化。  相似文献
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