高校椭偏测厚实验的计算机辅助教学

分析了高校椭偏测厚实验中存在的问题，成功研制出具有教学特点的多功能智能椭偏测厚仪和编制了一套该实验的CAI课，实验表明：椭偏测厚实验的计算机辅助教学效果良好。     

椭偏测厚仪确定薄膜真实厚度的分析

用椭偏测厚仪可以测量薄膜一个周期内的厚度和折射率.本文从理论上分析了采用变入射角确定薄膜的真实厚度时,存在最大可测厚度周期数和最大可测薄膜真实厚度,同时用图形形象描述了周期数、厚度周期、一个周期内的厚度、真实厚度之间的关系及它们与入射角的关系.     

金属表面镀层、漆膜测厚仪

介绍一种利用通电线圈产生感应电压原理自制的测量金属镀层、漆膜厚度的仪器。     

SCH-1型超声波测厚仪鉴定投产

山东济宁无线电仪器厂在北京电力科学研究所的密切配合下,于一九八一年试制成功了SCH-1型超声波测厚仪.经国家劳动总局无损检测中心、齐鲁石化公司第一化肥厂、勃海造船厂等单位试用,性能良好,符合实际需要,受到好评.五月中旬由山东省电子工业局主持鉴定,并已批量投产.     

国内首台珠层测厚仪启用

广西北海市质监局国家珍珠及珍珠制品质量监督检验中心，不久前正式启用国内首台珠层测厚仪，通过X光测定珍珠的珠层厚度，结束了凭肉眼来辨别珍珠优劣的历史。     

椭偏测厚仪测量结果的计算机数据处理

本详尽介绍了椭偏术测量单层透明薄膜折射率和厚度的方法，采用一种数字迭代计算方法，由测量得到的起偏角A和检偏角P直接算出所测薄膜的折射率和厚度。经过数值试验及与标准值比对，由此编制的计算程序具有准确，快速，方便的特点。     

新仪器,新设备

地质矿产部水文地质工程地质技术方法研究队声波研究室,根据当前工程地质勘探的需求,近年来研制了三种不同类型的声波检测仪.1986年5月9日至11日在河北保定市进行了技术鉴定,中国声学学会副理事长、同济大学声学研究所所长魏墨盦教授任鉴定委员会主任委员,主持了鉴定. SSY-6B信号增强型岩体声波检测仪是具有对单次激发振源(电火花、锤击)进行接收、波形存储、叠加、打印输出波形、实时进行频谱分析等多功能的仪器.它为用锤击法与跨孔法在岩土体中实现纵、横波测试、波形识别和判读提供了更为有力的手段;同时为开辟多种声学参数在工程地质及其它领域(如桩基和其它混凝土构筑物的质量检测等)的应用创造了条件.鉴定     

类Ni稀土X光激光波段衰减膜的设计与研究

对类 Ｎｉ稀土 Ｘ 光激光波段衰减膜进行了设计,并根据设计结果,利用磁控溅射和旋转涂覆法分别制备了自支撑的 Ａｇ 衰减膜和聚苯乙烯（ Ｃ８ Ｈ８）衰减膜。利用真空 α能谱测厚仪和 αｓｔｅｐ１００ 台阶仪分别对衰减膜的质量厚度和均匀性进行了测量,用 Ａｕｇｅｒ 电子能谱（ Ａ Ｅ Ｓ）对 Ａｇ 衰减膜进行了表面杂质分析。     

紫外可见吸收光谱仪与椭偏测厚仪联用测量透明光电子薄膜的厚度

采用椭偏测厚仪测量薄膜的折射率,用来修正紫外可见吸收光谱仪极值法测量膜厚的数据.通过制备掺铝氧化锌(ZAO)薄膜及SEM断口观察进行实验验证,证实该修正方法有助于提高膜厚测量精度.联用这2种常规仪器,可以方便地获得0~20μm宽范围的透明光电子薄膜的厚度,数据采集与处理简单快捷,可满足大部分薄膜工艺研究和生产的需要.     

同位素数字直读式测厚仪

同位素测厚仪是根据射线在物质中的衰减规律的原理制成的.它具有非接触测量、稳定可靠、反应迅速、坚固耐用的特点.国内外大、中型钢铁企业几乎全部都是采用这种类型的厚度计来检测和控制板村、带材生产的.透射式测厚仪原理框图如图1. 1.同位素射线源:发出γ射线或β射线. 2.探测器或传感器:接收射线并转换成电信号.本测厚仪采用高压充氙电离室作为探测器,电离室和前置放上器组成探头,输出模拟电压信号. 3.二次仪表:将探头输出的电信号转变成厚度　绝对值或厚度偏差信号,并通过显示器显示. 图1是本仪器的原理方框图.放射源发出的射线穿过被…