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中国机械工程学会无损检测学会于1981年7月16日—21日在北戴河召开了第二届年会,到会代表有来自中央廿几个部委28个省市230多人,会上有44个厂家参加仪器展销,总计到会人数约300人.中国科协主席周培源从头至尾参加了年会并作了重要讲话.年会共收到300多篇学术论文,经预审选出88篇A类 相似文献
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利用光学显微镜的反射模式观察了升华法生长的6H-SiC单晶(0001)Si-面的生长形貌,应用台阶仪测定了生长台阶高度.实验发现,6H-SiC单晶的生长台阶呈螺旋状,生长台阶呈现出了韵律束合现象.在单晶中间部分,生长台阶稀疏,台面较宽,约80μm左右,台阶高度较小,约20～50nm,比较宽的台面上存在小生长螺旋.外围单晶区域,生长台阶比较密集,其台阶高度较大,约300～700nm,台面宽度较小,约2～5μm.生长台阶在前进过程中受单晶中的微管缺陷影响,在微管的附近出现弯曲. 相似文献
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