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1.
动载体成像系统底座无角位移减振器的设计   总被引:15,自引:0,他引:15  
张葆  贾平  黄猛  田素林 《光学技术》2003,29(4):464-466
详细分析了由动载体振动引起的角位移和线位移对成像系统的影响。角位移是影响成像质量的主要因素。对成像底座减振系统的要求既要满足减振效率,又要控制减振过程中产生的角位移。设计了一种三向等刚度无角位移减震器,它既能满足减振要求,又能控制减振过程中产生的角位移,从而提高了动载体摄像系统的清晰度,同时又不影响视轴的指向精度,是一种比较理想的减振器。  相似文献
2.
法布里-珀罗板正弦相位调制型高精度角位移测量   总被引:6,自引:1,他引:5  
张彩妮  王向朝 《光学学报》2004,24(8):141-1145
提出了一种基于法布里-珀罗板和正弦相位调制干涉术的角位移测量新方法。采用CCD探测法布里-珀罗板两透射光束光斑的中心距,通过运算得到了入射光的初始角,解决了采用法布里-珀罗板干涉法测量角位移需确定入射光初始角的问题。采用正弦相位调制干涉术通过测干涉信号的相位来测量物体的角位移,增强了对杂散光的抗干扰能力,减少测量误差,提高了测量精度。理论模拟和实验结果表明本方法可以实现精度为10^-8rad数量级的高精度角位移测量。  相似文献
3.
提出了一种全角度并且可以连续测量微小角位移(秒级)的新型光纤角位移传感器.利用微小光学谐振腔的基本理论,主要是基于光学法布里-珀罗(Fabry-Perot)腔的基本原理研究特定光波下光强度的变化与角位移的线性变化关系,利用光纤技术、敏感技术融合微机械技术研发而成.适合于一些特定领域中对角位移的精确测量.  相似文献
4.
光导纤维在载荷测量及角位移测量中的应用   总被引:2,自引:0,他引:2  
李威宣  李明 《光学技术》1999,(1):geMap1
介绍了力学量中载荷和角位移的测量传感器。其方法是利用光导纤维作为传感器主要元件,被测载荷使弹性元件变形,使光纤端面间光的耦合效率发生变化,通过测量光通量的变化而测知载何和角位移的大小。在载荷测量中特殊布置光纤的位置,通过电路对信号的差分处理能达到提高传感器线性度的目的。最后的传感器输出结果其非线性大为减小。角位移的测试中,这种角位移光纤传感器灵敏度高,分辨率小,适合于扭转试件的微小角位移测量。这类光纤传感器用于力学量测试可弥补一些传统测量方法的不足。  相似文献
5.
航空稳像光电平台设计   总被引:2,自引:0,他引:2  
分析了随机振动对调制传递函数的影响,指出角位移是影响航空成像质量的主要因素.研究了特定条件下可容许的MTF下降,并转变为稳定系统的设计参量,用来指导稳像系统的设计.利用空间机构学及平行四边形平动原理,研制了一种新的无角位移减振稳像平台,满足既无角位移又达到减振要求.根据设计理论给出了设计实例,对频率高于100 HZ的振动,衰减达34dB,并利用动力学软件进行测试仿真,仿真曲线验证无角位移减振的正确性,同时对无角位移机构进行光学测试,结果耦合角度小于8″,可以满足航空成像要求.  相似文献
6.
机载光电系统稳定精度测试方法研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
提出了一种实时高频角位移测量的新方案,采用该方案可对机载光电系统动态稳定精度进行测试。该方案采用激光自准直测量,以及高精度、高响应频率PSD探测器传感稳定平台的角位移,有效解决了频率达500Hz角振动状态下的稳定精度测量。与传统的脱靶量测试方法相比,精度提高了几个数量级,优于10μrad。该方法可用于机载高精度稳定平台稳定精度的实时测量。  相似文献
7.
光指针式微小位移测量仪   总被引:2,自引:2,他引:0  
光指针式微小位移测量仪巧用光路将微小的位移量放大,从光指针终端的标度盘上可以直接读取实际的位移数值.  相似文献
8.
纳弧度分辨力角位移传感器及平均灵敏度标定   总被引:1,自引:0,他引:1  
给出了基于六次临界反射棱镜的精密角位移传感器,采用的是差动式结构。实验结果表明,传感器灵敏度高,量程为500μrad,具有5nrad的分辨力。提出了适合于小量程角位移传感器的平均灵敏度的标定方法,可以快速标定平均灵敏度,降低标定过程中标定系统及传感器自身漂移对标定精度的影响。  相似文献
9.
关于振动热能的计算   总被引:1,自引:0,他引:1  
刘裕勤  管立 《工科物理》1999,9(2):39-39,28
本文通过对多种振动系统动热能的分析和计算,指出了振动势能是系统相对于平衡位置的各种势能增量之和,它只与位移有关,并可用一通式表示。  相似文献
10.
基于叠栅条纹的光刻对准理论分析及标定方法   总被引:1,自引:1,他引:0  
朱江平  胡松  于军胜  唐燕  周绍林 《光学学报》2012,32(6):607001-40
在线光栅用于纳米光刻对准理论的基础上,为实现光栅方向的标定和掩模硅片对准,提出一种利用相位斜率消除角位移的新方法,并给出线光栅标记及其对准原理。在对准前,掩模对准标记和硅片对准标记存在角位移,重点讨论了此种情况下叠栅条纹的特性以及与光栅物理参数的关系,并给出了相应的计算公式。基于傅里叶频域分析法,对叠栅条纹频率成分与条纹的关系做了简要分析。利用提取叠栅条纹行列方向的一维相位,通过数据拟合,得出了相位斜率与角位移的内在关系,实现了条纹方向的标定。模拟实验结果表明,该方法简单可靠,可分辨的最小角位移低于0.02°。  相似文献
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