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1.
多方法制备纳米ZrO2及其光谱特性研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
利用水热法、醇热法、溶胶-凝胶法、微波法和超声法分别制备了纳米ZrO2。使用X射线(X-raydif-fraction)和荧光光谱(PL-Photoluminescence)对样品结构及发光特性进行了表征。不同方法制得稳定的四方相氧化锆纳米微粒,由X射线衍射(XRD)看出产物结晶良好,且粒径较小。测试样品的光致发光谱(PL),发现样品在254和412nm激发光激发时发光效率较高,可以观察到明显的红光和蓝光。对采用不同方法制备的样品,对其性质进行研究和比较。在固体发光特别是半导体发光理论基础上对氧化锆发光特性给出了一定解释,最后对纳米材料光学特性理论模型的建立进行了初步探讨。  相似文献
2.
非晶氧化锆水合物红外研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
用红外吸收光谱(IR)结合X射线衍射(XRD)、差热(DTA)和理分析(TG)详细研究了氧化锆前驱物(溶胶凝胶法制得的非晶态氧化锆水合物)的结构,实验结果表明在非晶态氧化锆水合物中有三种不同的近程结构,它表现为不同条件下制得的非晶氧化锆水合物的红外吸收谱在1700~1200cm^-1水和羟基的弯曲振动吸收区出现1633、1551、1400和1340cm^-1四个不同的羟基吸收峰,这表明样品中有三种  相似文献
3.
Nanostructured multiphase zirconia films (MZFs) are deposited on Zr substrate by the irradiation of energetic oxygen ions emanated from a plasma focus device. The oxygen operating gas pressure of 1 mbar (1 bar=105 Pa) provides the most appropriate ion energy flux to deposit crystalline ZrO2 films. X-ray diffraction (XRD) patterns reveal the formation of polycrystalline ZrO2 films. The crystallite size (CS), crystal growth, and dislocation densities are attributed to increasing focus shots, sample axial distances, and working gas pressures. Phase and orientation transformations from t-ZrO2 to m-ZrO2 and c-ZrO2 are associated with increasing focus shots and continuous annealing. For lower (200 ℃) annealing temperature (AT), full width at half maximum (FWHM) of diffraction peak, CS, and dislocation density (δ) for (020) plane are found to be 0.494, 16.6 nm, and 3.63×10-3 nm-2 while for higher (400 ℃) AT, these parameters for (111) plane are found to be 0.388, 20.87 nm, and 2.29×10-3 nm-2, respectively. Scanning electron microscope (SEM) results demonstrate the formation of rounded grains with uniform distribution. The estimated values of atomic ratio (O/Zr) in ZrO2 films deposited for different axial distances (6 cm, 9 cm, and 12 cm) are found to be 2.1, 2.2, and 2.3, respectively. Fourier transform infrared (FTIR) analysis reveals that the bands appearing at 441 cm-1 and 480 cm-1 belong to m-ZrO2 and t-ZrO2 phases, respectively. Maximum microhardness (8.65±0.45 GPa) of ZrO2 film is ~ 6.7 times higher than the microhardness of virgin Zr.  相似文献
4.
通过黏度、表面张力、密度及粒度测试等手段研究了球磨剂、球磨时间、pH值、添加剂等因素对纳米氧化锆水悬浮液稳定性的影响。结果表明:球磨时间2h,球磨剂与氧化锆质量比为3.5%,添加剂可用乙二醇,悬浮液pH值为10.0,氧化锆粒径小于15nm时,纳米氧化锆水悬浮液可稳定30天。  相似文献
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