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1.
KAF-4301E CCD在低温下微光成像特性的实验研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了实验的原理和方法;重点介绍了在低温下KAF_4301E CCD的成像特性———量子效率(QE)、电荷转移效率(CTE)、读出噪声、暗电流和满阱等的测试结果。实验结果显示,随CCD工作温度降低并超过其最小标称值后,虽然暗流则明显减小,但CTE性能快速变差。从理论上对所得的结果进行了简短的分析和讨论。分析了该型号CCD在微光成像方面的应用前景。  相似文献
2.
张晓宏 《应用光学》1999,20(6):34-38
对全铝合金RC光学系统低温下像质检测的关键技术进行研究和分析,建立低温测试装置,给出低温检测结果,并分析实验现象。  相似文献
3.
本文介绍用于超声实验的低温测试系统;可同时对衰减和声速进行测试,频率范围为5MHz—250MHz,声速测试精度为10~(-5)。列举的实验结果说明,该系统在4.2K至300K温度范围内,工作稳定,数据可靠。  相似文献
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