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1.
 先后选用1至3片非晶Fe46.3Co0.03Ni46.5Si3.75V0.92B2.5合金薄带作样品,插入13层密绕直螺线管内,分别在高静水压容器内和其他四种不同环境中测量它们的磁化曲线、磁导率曲线和起始磁化曲线,再次研究了初级线圈采用多层直螺线管对铁镍合金样品的误差。(1)实验结果表明:既存在样品材料被磁化而形成的退磁场H',也存在漏磁通引起周围铁器磁化而形成的退磁场H'。(2)为了缩小H'的影响,只用1片非晶合金薄带作样品时,H'的影响变得严重,导致μm和μi出现惊人的误差:Δμmm=50%,Δμii=104%。(3)为了综合兼顾这两种影响,采用3片非晶合金薄带作样品时,虽然H'的影响增大一点,但是H'的影响被更多地削弱,所以环境磁化引起的误差反而减小:Δμmm=29%,Δμii=15.5%。  相似文献   
2.
 用混溶蒸发法制备出一系列高聚物P(EO)n-CuBr2(n=4, 8, 12, 16, 24)薄膜,并详细测量它们在0.1~350 MPa静水压范围内的复阻抗谱、在0.1~2 400 MPa静水压范围内的交流电导率以及介电常数。结果表明:离子电导率对压力的依赖关系(σ-p曲线)是条折线,可分解为四条直线相迭加。进一步做X射线衍射物相分析,它们分别归于PEO非晶相的压力效应、PEO结晶相的压力效应和析出CuBr2新相的压力效应。由此计算出上述三种不同相所对应的激活体积、截止压力各自随高聚物P(EO)n-CuBr2薄膜组分的变化。为减小离子电导率的压力效应提供了物理基础。  相似文献   
3.
选用分子量在500万的聚氧化乙烯和无水溴化铜,通过混溶蒸发法制备出一系列高聚物P(EO)n-CuBr2(n=4,8,12,16,24)薄膜,并在0.1-2443MPa范围不同的静水压下详细测量了它们的相对介电常数。分别探讨了增塑剂(CHH6O3)含量对室温常压下离子电导率和介电常数的影响,及其对高压下离子电导率和介电常数的影响。实验结果表明:P(EO)n-CuBr2薄膜在添加介电常数较高和本体粘度较低的增塑剂C4H6O3后,当其相对浓度npc/ntotal=20%时,不仅使该膜的室坟离子电导率明显提高6.8倍,而且使其在高压力下的离子电导率提高1(0.1-100MPa),至2(350-800MPa)个数量极,非常有利于在高压环境中应用。  相似文献   
4.
1998年11月17日狮子座流星雨的次声观测   总被引:4,自引:1,他引:3       下载免费PDF全文
苏昉  苏骁 《应用声学》2000,19(3):1-6
采用三台CSH-1型次声接收器,在北京昌平区布置了一个次声测量三点阵,并观测到1998年11月17日狮子座流星雨产生的次声波P-t曲线和波速波向图,借助快速富立叶变换,分析P-t曲线的波形得到次声的三维动态谱,频谱分析结果表明,(1)各流星产生的次声波大都很短暂,持续时间在1-5分钟内;(2)流星次声波的周期都在40-408秒内,少数在1-480秒内;(3)在11月17日19:21-20:41期间  相似文献   
5.
 选用分子量为500万的聚氧化乙烯和无水溴化铜,通过混溶蒸发法制备出一系列高聚物P(EO)n-CuBr2(n=4,8,12,16,24)薄膜,并在0.1~2443 MPa范围不同的静水压下详细测量了它们的相对介电常数。分别探讨了增塑剂(C4H6O3)含量对室温常压下离子电导率和介电常数的影响,及其对高压下离子电导率和介电常数的影响。实验结果表明:P(EO)16-CuBr2薄膜在添加介电常数较高和本体粘度较低的增塑剂C4H6O3后,当其相对浓度nPC/ntotal=20%时,不仅使该薄膜的室温常压离子电导率明显提高6.8倍,而且使其在高压力下的离子电导率提高1(0.1~100 MPa)至2(350~800 MPa)个数量级,非常有利于在高压环境中应用。  相似文献   
6.
用混溶蒸发法制备出一系列高聚物P(EO)n-CuBr2(n=4,8,12,16,24)薄膜,并详细测量它们在0.1-350MPa静水压范围内的复阻抗谱、在0.1-2400MPa静水压范围内的交流电导率以及介电常数。结果表明:离子电导率对压力的依赖关系(σ-ρ曲线)是条折线,可分解为四条直线相迭加。进一步做X射衍射物相分析,它们分别归于PEO非晶相的压力效应、PEO结晶相的压力效应和析出CuBr2新相的压力效应。由此计算出上述三种不同相所对应的激活体积、截止压力各自随高物P(EO)n-CuBr薄膜组分的变化。为减小离子电导率的压力效应提供了物理基础。  相似文献   
7.
苏Fang  苏骁 《高压物理学报》1998,12(2):109-114
 为了探讨流体静高压原位磁测量中退磁场的影响有多大?分别选用6种不同片数(n=1、3、5、7、10、13)的非晶Fe46.3Co0.03Ni46.5Si3.75V0.92B2.5合金薄带样品,先后放进13层密绕直螺线管初级线圈内,采用工业频率400 Hz去测量和比较其磁化曲线、磁导率曲线和起始磁化曲线。研究表明:(1)样品片数越多,退磁场的影响越大,导致μm和μi出现惊人的测量误差,以1片(μm=4 430,μi=3 396)为最准。(2)随着样品片数的增多,测量饱和磁感应强度Bs=0.837~0.762T,表明受退磁场影响较小。(3)若要减小退磁场误差,可将样品做得更薄,如0.2 μm薄膜。(4)若要彻底消除退磁场误差,必须采用闭合磁路,如用非晶合金薄带卷成的圆环。  相似文献   
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