快速制取人体组织病理切片的超声波法

本文介绍了用超声波方法快速制妈人体组织病理切片的基本原理，实验步骤和试验结果。结果表明，用超声波处理后快速制取的病理切片完全怀可常规石蜡切片相媲美，在临床外检快速病理诊断应用上，超声处理仪有可能取代价格昂贵的恒温式冷冻切片机。     

1200℃以下测定固体和液体的小平板热导仪的研究

测定非金属物质导热系数(λ)的方法中,以精度高、样品易制备的平板稳态绝对法应用最广,已被许多国家定为标准测试方法.但是,一般平板热导仪的试验温度较低(1000℃以下)、样品较大(φ≥10cm).为此,我们继研制900℃中平板热导仪后,又对该方法作了进一步研究和改进,研制了试验温度(试样平均温度)为1200℃,试样φ为     

二维Hénon-Heiles势及其变形势体系逃逸率与分形维数的研究

采用Chin和Chen的动力学算法追踪粒子在体系中的运动情况, 首次研究并对比了粒子在Hénon-Heiles体系与变形Hénon-Heiles六边形体系中的混沌逃逸规律, 在Hénon-Heiles体系中, 对于不同能量范围, 分形维数与逃逸率随能量而改变, 但在变形Hénon-Heiles六边形体系中, 仅在低能区分形维数与逃逸率随能量的改变而变化, 而高能区逃逸率和分形维数趋于稳定值. 并且得到普遍规律, 即不同混沌体系中粒子的混沌逃逸率和粒子逃逸的分形维数呈现较强的线性相关性. 因而分形维数可以作为工具研究混沌体系中粒子的逃逸规律, 在介观器件设计中可以通过研究混沌电子器件的分形维数来表征粒子在器件中的传输行为.     

Analysis of the fractal intrinsic quality in the ionization of Rydberg helium and lithium atoms

We study the fractal rhythm in the ionization of Rydberg helium and lithium atoms in an electric field by using the semiclassical method. The fractal structures present a nested relationship layer by layer in the initial launch angles of the ionized electrons versus the escape time, which is defined as the rhythm attractor, and exhibit similar rhythm endings. The gradually enhanced chaotic regions of the escape time plots tend to broaden as the scaled energy increases. In addition,the fractal rhythm changes synchronously with the oscillations of the kinetic energy spectrum. We note that the intrinsic quality of the fractal rhythm is closely related to the kinetic energy distribution, that is, the inherent dynamic properties of the Hamiltonian equations have an impact on the fractal regularities. In addition, different ionizing closed trajectories exhibit iterate properties and the inherent beauty of symmetry. Our results and analysis can not only reveal new laws in the ionization of Rydberg atoms, but also promote the establishment of the dynamic mechanism of fractals.     

金属及涂层法向热发射率的测定与检验

本文介绍了两种简易的法向热发射率测定装置. 第一种是E·Schmidt氏装置的简化与改进,它是基于测定待测物体表面的本身热辐射;第二种是基于测定待测表面对一个热辐射源辐射的反射率而间接地确定热发射率.对这两种装置的工作原理分别作出了近似的理论分析,列出了实验数据.经使用表明,这两种装置操作方便,性能稳定,可用于表面热发射率的检测.