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1.
电子散斑干涉计量术(Electronic Speckle Pattern Interferometry,ESPI)是变形场、应变场测量、振动分析及无损探伤的一种重要手段.最近,我们利用 ESPI 的新的研究成果,研制了新型多功能 SS-210电子散斑干涉仪,该 ESPI 仪采用单模半导体激光器作为光源,波长为830nm,额定功率为30mW.  相似文献   
2.
骆德渊  任雅萍 《光子学报》1997,26(4):359-364
本文给出一种电子散斑干涉条纹信号实时处理系统的实现方案;详细分析了物体变形前后信号延迟对相关性的影响;并导出条纹信号频率范围与离面位移的关系式及散斑背景噪音最低频率估算式,从获取低背景噪音条纹图角度给出光学系统优化设计的依据;最后给出实验结果.  相似文献   
3.
周剑  骆德渊 《应用光学》1997,18(4):40-45
提出用标定法测量刚体多维微位移,该方法具有结构简单,性能可靠,集成化程度高,工业上易实现和价格便宜等优点。本文采用一个小功率激光器为光源及一种新的CMOS图像传感器为光电传感器件,通过相关分析法和数据拟合等图像处理技术,提高整套系统的精度和分辨率。  相似文献   
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