大洋多金属结核中27个元素的快速分析

利用飞利浦PW2400X射线荧光光谱仪测定了多金属结核中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、Cl、K2O、CaO、TiO2、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Rb、Sb、Y、Zr、Mo、Ba、La、Ce和Pb27种组分。采用粉末直接压片法制样,理论α系数（对分析线波长大于铁吸收限的元素）和以RhKβ１康普顿峰为背景的峰／背比法９对于其分析线波长小于铁吸收限的元素）校正元素间的吸收－增强效应,用国际锰结核标准样品建立校准方程（同时包括谱线重叠校正项）,方法经标准物质检验,具有较好准确度,能满足大洋多金属结构资源调查、评价要求。对主、次和绝大多数痕量组分,方法的相对标准偏差（ＲＳＤ,n=10）小于５％。与其他多元素分析方法相比,制样简单快速,而且是一种“环境友好”的“绿色”分析方法。     

用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

本文用X射线荧光光谱法,不破坏样品,测定三元合金薄膜的组份。此法无需制备任何相似的固体标样或纯元素的块状标样,而是利用含已知组份的滤纸片作为标样。滤纸片标样制作简便、快速,并且能长期稳定。由薄膜中元素所发出的特征X射线强度与其面密度之间的一组联立方程解出薄膜成份,利用衬底中元素的特征X射线强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚。利用本文的方法可以同时测定薄膜的成分和厚度。 关键词：     

基本参数法和经验系数法相结合的软件开发及其应用

本文概要叙述了对引进的美国海军研究实验室X射线荧光分析程序(称NRLXRF程序)的开发和应用情况。本工作对该程序的基本结构、主要功能、调用方法及进行未知试样分析时的主要步骤等,作了探讨性的开发,並在此基础上将其应用于超导薄膜、高温合金膜、高温合金钢、钛白等试样的分析,效装较好,可满足工艺分析的要求。对多元复杂体系的稀土、水泥试样作了较广泛的分析对照,为实现单标样或少标样进行X射线荧光分析,开辟了一个很好的途径。     

X荧光滤纸片薄样法测定铅锌矿选矿流程样中Pb,Zn,Cu,Fe

本法将Ｘ荧光滤纸片薄样法用于具有复杂组分的铅锌矿选矿样品中Ｐｂ，Ｚｎ，Ｃｕ，Ｆｅ的分析，样品经化学溶样后滴于定量滤纸片上，标准样品可直接用纯试剂人工配制，用同样制成滤纸片薄样标准系列，因薄样测定可不作基体效应校正，标样使用数量少，又无需化学法标定。故方法实验周期短，样品测定手续简便快速，元素分析含量适应范围宽，可适用于组分复杂，元素含量变化范围大的试样分析，样品分析结果与化学法相符，方法准确度与精     

X-射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑中的微量元素

报道了Ｘ射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑样品微量元素的新方法,校正了样品中元素中间的基体效应影响和校正了钢屑样品的不同颗粒结构,不同几何形态及不同表面状态的影响,使钢屑样品可不经处理直接测定,操作简便。     

白银制品中银含量的能量色散X射线荧光光谱无损检测

用放射性同位素源激发小型能量色散Ｘ射线荧光；光谱仪对银饰品、餐具、摆件中的银含量进行无损快速宣测定，在银含量为１０．００％～９９．９％扣范围内，测定精度和准确度均能满足实际检测误差要求。测定结果与大型的波长色散型Ｘ射线荧光光谱仪一致。     

X射线荧光光谱滤纸片法在合金分析中的应用——Nb-Ti和Ni-Re-Ta等合金成份的测定

所谓X射线荧光光谱滤纸片法,即试样溶解后分取少量溶液于固定面积的定量滤纸上制成薄样直接测定的方法。该方法能有效地消除基体效应,並且用人工合成标准样品,克服了化学法标定的困难,同时采用内标技术,既控制了制样误差又可消除仪器波动对测量的影     

“中厚”磁泡薄膜多元组份原子比的X荧光光谱非破坏测定

本文用X射线光谱绝对强度法、经验系数法和基片内标比值法测定钆镓石榴石基片上的磁膜组份:Ca、Fe、Y、Sm、Ge。厚度范围从“薄展”区扩展到了“中厚”区,结果与化学值相符,操作简便、快速且非破坏。     

不锈钢的 X射线荧光光谱分析

用高性能飞利浦PW2400X射线荧光光谱仪,测定不锈钢中Al、Si、P、S、Ti、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、As、Mo、Sn、W、Fe15个元素。给出了各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数。方法准确、灵敏、稳定性好、速度快。     

X荧光“NRLXRF”程序在薄膜分析中的应用

本法用X荧光“NRLXRF”程序,仅需一个固体薄膜标准或滤纸片薄样混合标准就可测定原子比从0.x—8范围的Nb-Ge超导薄膜试样,其准确度能达到经验系数法的水平。用纯元素块状标样测定了Nb Ge薄膜及高温合金Ae-Cr-Si和Ti-Cr Si薄膜试样,也得到了满意的结果。方法均已投入了实际试样的配合分析。