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讨论了传输方程在光束质量标准中的重要性,给出了光束传输方程的一种证明方法;在近轴条件下,非高斯光束与高斯光束都满足传输方程,这为选用理想高斯光束作为光束质量的度量基准奠定了基础。 相似文献
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HfO_2/SiO_2高反膜、增透膜及偏振膜的1064nm激光损伤特性 总被引:2,自引:0,他引:2
高反膜、增透膜和偏振膜是Nd∶YAG激光器中的关键薄膜元件 ,其抗激光损伤能力直接影响到激光器的输出能量和功率。由于优异的物理化学性能 ,高功率Nd∶YAG激光器的光学薄膜一般采用HfO2 /SiO2 膜料组合镀制 ,因而用此膜料镀制的光学薄膜的激光损伤特性是薄膜工作者重点关注的问题。对光学中心APS15 0 4镀膜机镀制的HfO2 /SiO2 高反膜、增透膜和偏振膜等开展了 10 64nm的激光损伤实验研究 ,用 2 0 0倍的Normaski显微镜详细分析了高反 ,增透和偏振膜的激光损伤图貌 ,发现对于脉宽为 10ns波长的 10 64nm的激光而言 ,高反膜基本表现为孔洞和等离子体烧蚀疤痕 ,孔洞是由薄膜中的节瘤 (nodular)缺陷的激光损伤引起的 ,损伤的能流密度较低 ,为薄膜的零损伤阈值密度。疤痕为薄膜的激光等离子体烧伤引起的 ,尺寸大小与激光能量密度成近似正比。增透膜一般为双面镀 ,分前后膜堆两种情况 ,前膜堆表现为孔洞和疤痕 ,与高反膜相似 ;后膜堆为孔洞型的小圆麻点聚积 ,麻点处的薄膜完全剥落 ,没有疤痕等烧伤痕迹 ,是激光在基片之间形成的驻波电场损毁 ,损伤阈值比前膜堆低 1 5倍 ,决定着增透膜的损伤阈值。偏振膜的低能量密度损伤与增透膜后膜堆相似 ,表现为孔洞型小麻点聚积 ,损伤处未见疤痕等烧蚀痕迹。对薄膜小尺度损? 相似文献
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由于基频光最后需通过三倍频元件才注入靶室,因此三倍频薄膜元件的抗激光损伤能力,将直接制约系统的能量。三倍频紫外激光薄膜的质量也将是决定系统指标的关键因素之一。在制备紫外增透膜方面,我们在基片和膜堆之间加镀缓冲层,既实现了高透射率,又改善了膜层内的电场强度分布。多次实验表明,样品在小口径元件损伤测量平台上测得的零几率损伤阈值一般大于7/cm^2(355m,10s),折算到3S约4.6/cm^2,折算到1ns为3.13/cm^2。考虑到大光束的破坏结果和小光斑的测量结果不同,我们在星光装置上进行大光束轰击破坏实验。 相似文献
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