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非晶硅X射线数字平板探测器是目前唯一可取代胶片照相的新型技术,对其成像特性的研究已成为高像质的DR和三维CT检测技术的基础。目前X射线成像系统均是以线性时不变理论作为分析基础的。基于X射线平板探测器成像系统、成像机理和几何参数建立了成像系统的点扩展函数(PSF)。用圆柱体等效二维PSF模型,使成像系统退化为比例系统,从而把复杂的反卷积运算转化成用代数方程来求解,能够快速实现通过探测器输出图像来估计透照工件的二维输入图像。此模型的建立为在实际检测中利用输出的图像通过线性变换得到输入估计。在DR系统中,基于上述数理模型建立了灵敏度模型,利用输出场强可以很好的再现输入场强。 相似文献
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X射线数字纹理图像的特征提取 总被引:1,自引:1,他引:0
以减少图像背景和结构纹理对特征提取的干扰为目的,提出了先去除背景和纹理,再进行特征分析的算法.该算法通过最小二乘法则拟合了类抛物线曲面函数提取数字射线图像的背景,减少了背景对图像特征的模糊,在此基础上,针对图像的结构纹理特点确定几何分布参量,定义减法运算公式消隐图像纹理,减少了纹理造成的图像灰度起伏,图像灰度级分布均匀.在平坦的图像背景中,根据数字射线图像信号点服从正态分布规律特点,设定阈值进行特征分割. 相似文献
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射线面阵探测器成像系统校正研究 总被引:1,自引:0,他引:1
基于线性、移不变理论,对射线面阵探测器成像的特性和系统成像所呈现出亮度不均匀的原因进行分析研究.通过分析线性系统成立的假设条件,给出了对实际成像中各像元点阵的偏置、灵敏度进行逐点校正的公式.在实验室,对基于PaxScan2520 面阵探测器的成像系统进行成像校正研究,取得了满意的效果,噪声得到有效的抑制,成像的不一致性得到改善.当检测较厚工件或工件厚度变化较大时,系统成像超出其线性范围,给出了二次校正的方法和公式,也取得了满意的效果. 相似文献