北京谱仪Ⅱ顶点探测器的径迹重建

描述了采用模式识别方法的北京谱仪Ⅱ顶点探测器径迹重建软件系统─—VCJULI.经过蒙特卡罗和真实数据的运行检查,证明该程序能对顶点探测器的径迹给出较好的空间分辨和径迹寻找效率.     

用于北京谱仪Ⅱ主漂移室径迹重建的一种新方法

介绍了一种新的主漂移室径迹重建软件DCJULIE,阐述了在径迹重建中模式识别方法的原理和技巧. 经过蒙特卡罗和真实数据的运行和检查,证明了软件的可靠性.     

BES-Ⅱ TOF数据的离线刻度

简要地讨论了北京谱仪-Ⅱ(BES-Ⅱ)飞行时间计数器(TOF)数据的离线刻度.利用J/φ能区的电子对事例仔细完成的离线刻度与校正结果表明,新的TOF时间分辨达到σ_TOF=180ps.由此大大增强了对带电粒子的识别能力.对于3σ的π/K分离其动量可以达到0.93GeV/c.     

用联合D0和D+单双标记测定分支比的方法

报道了用“联合D0 和D+单双标记”测定衰变分支比的方法 .基于北京谱仪 (BES)在北京正负电子对撞机 (BEPC)质心系能量s =4 .0 3GeV处获取的数据 ,利用联合D0 和D+单双标记的方法 ,可以测定D0 和D+介子单举和遍举衰变分支比 .作为该方法的应用举例 ,利用BES实验组发表的数据 ,在 90 %置信度的情况下 ,测得D+→e+ν衰变过程分支比的上限为Br(D+→e+ν) <1 .6% .此上限值与BES曾发表的结果一致 .     

北京谱仪桶部簇射计数器的改进升级

描述了北京谱仪桶部簇射计数器（ＢａｎｅｌＳｈｏｗｅｒＣｏｕｎｔｅｒ）的改进升级工作,改进后的桶部簇射计数器在能量分辨和位置分辨方面有了明显的提高,经对Ｂｈａｂｈａ事例进行离线刻度后,能量分辨好于２１％,ｚ向位置分辨小于３ｃｍ．     

北京谱仪Ⅱ顶点探测器的径迹重建

描述了采用模式识别方法的北京谱仪Ⅱ顶点探测器径迹重建软件系统─—VCJULI．经过蒙特卡罗和真实数据的运行检查，证明该程序能对顶点探测器的径迹给出较好的空间分辨和径迹寻找效率。     

用联合D0和D+单双标记测定分支比的方法

报道了用“联合D⁰和D⁺单双标记”测定衰变分支比的方法.基于北京谱仪(BES)在北京正负电子对撞机(BEPC)质心系能量s=4.03GeV处获取的数据,利用联合D⁰和D⁺单双标记的方法,可以测定D⁰和D⁺介子单举和遍举衰变分支比.作为该方法的应用举例,利用BES实验组发表的数据,在90%置信度的情况下,测得D⁺→e⁺ν衰变过程分支比的上限为Br(D+→e⁺ν)<1.6%.此上限值与BES曾发表的结果一致.     

北京谱仪桶部簇射计数器径迹重建方法

介绍了北京谱仪桶部簇射计数器径迹的重建方法,包括簇射径迹(独立簇射)的寻找、簇射的劈裂与合并等;并讨论了重建的性能和结果.     

北京谱仪桶部簇射计数器的改进升级

描述了北京谱仪桶部簇射计数器(BanelShowerCounter)的改进升级工作,改进后的桶部簇射计数器在能量分辨和位置分辨方面有了明显的提高,经对Bhabha事例进行离线刻度后,能量分辨好于21%,E,z向位置分辨小于3cm.     

北京谱仪Ⅱ顶点探测器的离线刻度

介绍了在VCJULI基础上对北京谱仪Ⅱ顶点探测器进行离线刻度的方法,包括整体T0的获得、单丝零时间t0的扣除、丝位的修正、顶点探测器相对于主漂移室位置的校正以及漂移时间一漂移距离关系的修正等.并由此给出了北京谱仪Ⅱ顶点探测器的主要参数:空间分辨好于100μm.