排序方式: 共有7条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
2.
3.
在北京谱仪(BES)原有模拟程序框架下,建立了适用于J/ψ,ψ‘衰变到VP和PP模式,以及ψ‘→π^ π^-/J/ψ‘衰变到J/ψ衰变到VP和PP模式的事例产生器,考虑了相应的角分布,为J/ψ,ψ‘物理的研究提供了方便,在ψ‘→γη,γη‘,ωπ^0,π^ π^-,K^ K^-等分支比的测量中,这一事例产生器可用于选择效率的确定和本底估计。 相似文献
4.
5.
6.
报道了用“联合D0 和D+单双标记”测定衰变分支比的方法 .基于北京谱仪 (BES)在北京正负电子对撞机 (BEPC)质心系能量s =4 .0 3GeV处获取的数据 ,利用联合D0 和D+单双标记的方法 ,可以测定D0 和D+介子单举和遍举衰变分支比 .作为该方法的应用举例 ,利用BES实验组发表的数据 ,在 90 %置信度的情况下 ,测得D+→e+ν衰变过程分支比的上限为Br(D+→e+ν) <1 .6% .此上限值与BES曾发表的结果一致 . 相似文献
7.
报道了用“联合D0和D+单双标记”测定衰变分支比的方法.基于北京谱仪(BES)在北京正负电子对撞机(BEPC)质心系能量s=4.03GeV处获取的数据,利用联合D0和D+单双标记的方法,可以测定D0和D+介子单举和遍举衰变分支比.作为该方法的应用举例,利用BES实验组发表的数据,在90%置信度的情况下,测得D+→e+ν衰变过程分支比的上限为Br(D+→e+ν)<1.6%.此上限值与BES曾发表的结果一致. 相似文献
1