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1.
合成了4个新的基于多胺酚配体的Dy(Ⅲ)和Zn/Ni-Dy(Ⅲ)配合物:[Dy(CH_3OCH3)L](1),[Dy2(μ-H2O)L2](2),[Zn2DyL2]ClO4·H2O(3)和[Ni2DyL2]ClO4·H2O (4)(H3L=N,N′,N″-三(3,5-二甲基-2-羟基苯酚)-1,4,7-三氮杂环壬烷)。X射线单晶衍射分析表明,配合物1和2分别为单核和双核Dy(Ⅲ)配合物,3和4为M-Dy(Ⅲ)-M三核配合物(M=Zn (3),Ni (4))。磁性测试表明,配合物1和2具有场诱导的慢磁弛豫行为,且2具有多个磁弛豫过程,配合物3和4中没有观察到明显的慢磁弛豫行为。荧光测试表明,配合物1~3具有Dy(Ⅲ)离子典型的窄带特征发射,由于Ni(Ⅱ)离子的荧光猝灭作用,配合物4没有明显的荧光产生。  相似文献   
2.
边界元理论在复杂外边界油藏水平井渗流中的应用   总被引:2,自引:2,他引:0  
受构造作用的影响,实际油藏的外边界往往是复杂多样的.本文从渗流理论出发建立了复杂外边界油藏水平井渗流数学模型,并采用Lord Kelvin点源解、贝塞尔函数积分和泊松叠加公式等方法求解了复杂外边界油藏水平井的边界元基本解,利用边界元的理论建立了复杂外边界油藏水平井井底压力响应数学模型.通过计算得到了无因次压力和压力导数双对数理论图版,并在其基础上分析了复杂外边界油藏水平井渗流特征及其影响因素.  相似文献   
3.
侧钻井压力分析的边界元法及储层伤害的评价   总被引:1,自引:0,他引:1  
向开理  郭建春  李允 《计算物理》2000,17(5):579-587
随着侧钻井的增加,非均质油藏侧钻井的压力动态特征和对储层伤害进行评价已变得越来越重要了。为了研究在非均质油藏中侧钻井的压力动态,建立了三维非均质油藏侧钻井的不稳定渗流数学模型。用边界元方法求得模型的解并分析了压力动态特征。通过拟表皮系数、无因次污染半径、无因次井筒储积系数和污染区渗透率等参数的合理组合,绘制了能用于侧钻井储层伤害评价的典型曲线。并对辽河油田某侧钻井的压力恢复试井数据进行了拟合。  相似文献   
4.
向开理  李允  何国良 《计算物理》2002,19(3):239-244
结合分形理论与渗流理论,对分形油藏非牛顿幂律流体低速非达西不稳定渗流的试井分析问题的数学模型进行了推导.该分形油藏模型由内域为非牛顿幂律流体低速非达西渗流,外域为非牛顿幂律流体达西渗流的同心圆域组成.在考虑井筒储存、表皮效应影响下,建立了该油藏的不稳定渗流有效井径组合数学模型,在3种外边界条件下求出了两个区域内压力在Laplace空间的解析解,应用Stehfest数值反演方法求得井底的无因次压力,分析了井底压力动态特征和参数影响.非牛顿幂律流体的幂律指数、分形参数均对典型曲线产生较大的影响,呈现出与牛顿流体和均质油藏明显不同的特征.这对非均质油藏非牛顿流体的不稳定试井分析及研究其非线性渗流特征均十分重要.  相似文献   
5.
选用刚性多羧酸有机配体H3L (3-(3'',5''-二羧基苯基)-6-羧基吡啶)与过渡金属Co(Ⅱ)盐在水热条件下得到Co-MOF:{[Co3(L)2(H2O)6]·3H2O}n (1)。X射线单晶结构分析表明,L3-配体利用其3个羧基以及吡啶氮原子将Co(Ⅱ)连接形成了三维多孔骨架,孔道由结晶水分子填充。结构中的配位水与结晶水分子间通过氢键连接形成连续的一维水链,为质子传导提供了良好的路径。将配合物1与Nafion混合制作1/Nafion复合膜,交流阻抗分析结果表明配合物1的掺杂使得复合膜的质子电导率比纯Nafion膜提升了40.3%。  相似文献   
6.
选用柔性多羧酸有机配体与过渡金属离子Ni(Ⅱ)在水热条件下得到Ni?MOF[Ni2(L)(Nphen)2(H2O)4]n(1)(H4L=5,5'?(丁基?1,4?二氧)间苯二甲酸,Nphen=5?硝基?1,10?邻二氮杂菲)。单晶结构分析表明,配合物1中存在连续氢键作用,这将有利于质子的传导。红外、X射线粉末衍射以及热重分析等表征结果表明,配合物具有良好的纯度和稳定性。将配合物1的颗粒与Nafion混合形成复合膜,并对其进行了电化学研究。结果表明配合物1的掺杂能够明显改善Nafion膜的质子传导行为,复合膜的质子电导率比纯Nafion膜提升24.08%。  相似文献   
7.
选用刚性多羧酸有机配体H3L(3-(3′,5′-二羧基苯基)-6-羧基吡啶)与过渡金属C(Ⅱ)o盐在水热条件下得到Co-MOF:{[Co3(L)2(H2O)6]·3H2O}n (1)。X射线单晶结构分析表明,L3-配体利用其3个羧基以及吡啶氮原子将Co连接形成了三维多孔骨架,孔道由结晶水分子填充。结构中的配位水与结晶水分子间通过氢键连接形成连续的一维水链,为质子传导提供了良好的路径。将配合物1与Nafion混合制作1/Nafion复合膜,交流阻抗分析结果表明配合物1的掺杂使得复合膜的质子电导率比纯Nafion膜提升了40.3%。  相似文献   
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