超分辨重建技术及其研究进展

超高分辨成像技术一直是航天、遥感、目标识别等领域的研究热点。随着光学成像到光电数字成像的转变，如何提高CCD的几何分辨率，已成为研制高分辨光电成像系统亟待解决的问题。本文从理论和工程实现的角度介绍了超分辨成像的技术原理，分析了实现超分辨重建技术的几种方法，主要描述了微扫描和亚像元两种重建技术的实现方式，指出了目前超分辨技术存在的缺陷。最后,针对超分辨技术中无混淆重建带宽较窄的问题，提出了一种新的技术方案。该方案将光学编码技术与目前的亚像元技术相结合，可将重建带宽拓展3倍。研究结论指出：融合了光学，光电子学和信号处理的成像系统的综合设计，将是未来成像领域的一个重要研究方向。     

微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响

在分析采样理论和微扫描理论的基础上,引入了一个评价光电成像系统混淆噪声的品质因数,定量地分析了不同模式的微扫描对系统混淆噪声的改善程度。     

不同型号凝胶色谱特点及其与其它预处理设备比较

比较了凝胶色谱仪与其它常用预处理设备的特点、应用范围,并着重比较了传统凝胶色谱( GPC)与全自动在线GPC-GC-MS联用仪的特点、应用及这两类设备在Aroclor 1260样品加标回收率的情况.结果表明,GPC相对于其它预处理设备更适合净化大分子干扰样品;全自动在线GPC-GC-MS联用仪与传统GPC相比具有净化时间少、溶剂用量小两大优势.     

微扫描对光电成像系统图像噪声的影响

介绍了光电成像系统的噪声,运用功率谱分析方法推导了插值技术对噪声的影响。插值技术使时间噪声的功率谱变大,使固定模式噪声功率谱的谱值出现再分配,引起图像质量的改善。用计算机进行了模拟实验。     

基于波像差判据的同步相移显微干涉检焦方法

为了实时准确地将激光直写系统中经直写物镜聚焦的光斑定位于待加工元件表面,提出了一种基于波像差判据的同步相移显微干涉检焦方法,实现了对离焦量的实时检测与调整。在直写系统中引入检焦光路,与直写光路共享同一物镜,构建Linnik型同步相移显微干涉检焦系统,提取包含离焦量的波面相位信息;再从大数值孔径（NA）的物镜波像差数据中解析出离焦量的大小与方向。仿真结果验证了基于波像差判据的离焦计算方法的正确性,NA≥0.5时,离焦探测灵敏度可达4 nm, 通过实验验证了同步相移显微干涉检焦方法的可行性,检焦精度可达10 nm以内,满足激光直写高精度的测量要求。     

超紧凑型红外折反式光学系统设计

提出一种超紧凑型折反式红外光学系统设计方法，即系统的主、次镜均采用金属镜，后组采用红外透射材料，实现了总长/焦距比为0.55。在设计中重点分析系统的温度效应，并采取针对性设计，以达到准无热化设计的目的。同时对系统进行杂光分析，给出杂光抑制方案，并使用杂光分析软件对系统进行分析。结果表明：系统像面杂散辐射在0.5%以内，光学材料与结构材料的热胀系数配合得当，系统的热效应很好。