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1.
平行式向列液晶实现相移剪切电子散斑干涉术的研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
姜力军  刘伟 《光学学报》1996,16(2):44-247
研究了向列型液晶的相位调制特性,采用平行式向列液昌作为相移器建立了相移剪切电子散斑干涉计量系统。该方法将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中,提高了检测精度,采用了相关条纹法求解相位,简化了计算;相移方法简单,可靠。用该系统进行应变场的测量实验,取得了满意的效果。  相似文献   
2.
电子散斑干涉计量术(Electronic Speckle Pattern Interferometry,ESPI)是变形场、应变场测量、振动分析及无损探伤的一种重要手段.最近,我们利用 ESPI 的新的研究成果,研制了新型多功能 SS-210电子散斑干涉仪,该 ESPI 仪采用单模半导体激光器作为光源,波长为830nm,额定功率为30mW.  相似文献   
3.
散斑计量技术—走向工程实用化的技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
姜力军  刘伟 《物理》1995,24(3):154-160
散斑计量技术是在现代高科技成果如激光技术、视频技术、电子技术、信息与图像处理技术、计算机技术、佤息、精密测试技术等基础上发展起来的有效工程检测技术,它具有全场、无损、灵敏、实用的优点,因而得到了迅速发展和广泛的应用,散斑计量技术的最终目的是走向工程实用化,实现现场在线测量,随着它的发展,必然会在科学研究和工程实际中发挥重大的作用。  相似文献   
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