用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

本文用X射线荧光光谱法,不破坏样品,测定三元合金薄膜的组份。此法无需制备任何相似的固体标样或纯元素的块状标样,而是利用含已知组份的滤纸片作为标样。滤纸片标样制作简便、快速,并且能长期稳定。由薄膜中元素所发出的特征X射线强度与其面密度之间的一组联立方程解出薄膜成份,利用衬底中元素的特征X射线强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚。利用本文的方法可以同时测定薄膜的成分和厚度。 关键词：     

镍、铜、铅锌矿选矿流程中X射线荧光光谱分析

本法制样简单,只需要粉碎和压片。粉末试样的强度测量常常受到影响。为了减少颗粒度效应,5克矿样于T-100型振动磨样机中粉碎2分钟。用硼酸垫底,在500Kg/cm~2的压力下加压成型。102个实际迭矿试样经化学法标定后作为标样。在选矿分析中X荧光分析结果依赖于标样数目。因选矿样主要是硫化物和脉石组成,矿物学效应降低到最小程度。本法不仅适合于恒     

基本参数法和经验系数法相结合的软件开发及其应用

本文概要叙述了对引进的美国海军研究实验室X射线荧光分析程序(称NRLXRF程序)的开发和应用情况。本工作对该程序的基本结构、主要功能、调用方法及进行未知试样分析时的主要步骤等,作了探讨性的开发,並在此基础上将其应用于超导薄膜、高温合金膜、高温合金钢、钛白等试样的分析,效装较好,可满足工艺分析的要求。对多元复杂体系的稀土、水泥试样作了较广泛的分析对照,为实现单标样或少标样进行X射线荧光分析,开辟了一个很好的途径。     

钒基多元超导合金的X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱法已广泛用于合金分析。本文分析的对象为钒基多元超导合金,从分析的角度看,试样有以下特点:1.某些化学性质很相近的元素共存,用化学方法分析困难较大;2.试样组成多变,但都以钒为基本成份,分别同锆、铪、铌、钽、钛冶炼成二元、三元或四元多种不同体系的合金。因此,试样组成不固定,含量变化也比较大。针对上述特点,为了及时配合材料研究部门的工作,采用了溶液滤纸片法制备薄试样以克服基体效应,加入内标元素以减小制样误差,用人工合成方法制备一套包含全部六种成份的标准快速分析多种不同体系的钒基合金。     

X射线荧光光谱滤纸片法在合金分析中的应用——Nb-Ti和Ni-Re-Ta等合金成份的测定

所谓X射线荧光光谱滤纸片法,即试样溶解后分取少量溶液于固定面积的定量滤纸上制成薄样直接测定的方法。该方法能有效地消除基体效应,並且用人工合成标准样品,克服了化学法标定的困难,同时采用内标技术,既控制了制样误差又可消除仪器波动对测量的影     

X荧光“NRLXRF”程序在薄膜分析中的应用

本法用X荧光“NRLXRF”程序,仅需一个固体薄膜标准或滤纸片薄样混合标准就可测定原子比从0.x—8范围的Nb-Ge超导薄膜试样,其准确度能达到经验系数法的水平。用纯元素块状标样测定了Nb Ge薄膜及高温合金Ae-Cr-Si和Ti-Cr Si薄膜试样,也得到了满意的结果。方法均已投入了实际试样的配合分析。     

铜矿选矿流程中铜、铁、硫、硅、铝、钼和钛的X射线荧光光谱直接测定

近年来国外已广泛采用x射线荧光光谱分析作为有色金属采矿、选矿、冶炼的流程控制分析。本文所研究的对象为干法矿样,其组成复杂,元素在其中所呈现的状态各不相同,试样的粒度不一致,而各元素的含量变动范围又很大。因此,如何消除试样的颗粒度影响,克服共存元素的基体效应,快速而准确地配合流程分析便是本法讨论的重点。为此采取了如下措施:以实际试样作标准试样;用振动磨样机计时磨样;采用经验系数法对共存元素     

X射线荧光光谱法测定磁泡薄膜中Y、Bi、Ca、Fe、Ge、Si

近年来用X射线荧光光谱测定薄样的方法及技术有了迅速发展,其中对于薄膜组份和厚度的非破坏测定,从Bergel等人用人工制备的点滴滤纸片薄样作标准以来,该方法又有新的进展,本文在此基础上完成了对膜厚小于3μm的Gd-Ga石榴石磁泡薄膜中Y、Bi、Ca、Fe、Ge、Si原子比和含量的非破坏测定。 1.原理及公式:薄样中元素的X射线荧光强度表示如下: