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掠入射、全反射技术应用于化学的微量及超微量元素分析和表面分析,给X射线荧光分析技术带来了突存性的发展。目前,利用全反射X荧光分析技术对微量元素进行分析,其检测限已达到pg级,硅片表层杂质分析的检测限达到10^9个原子/cm^2。文章介绍了该技术的基本理论和特点、近年来国内外发展情况及应用的例子。 相似文献
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本文叙述了用全反射X荧光分析方法测定溶液中微量硒的实验装置、制样技术和测定方法。介绍了ng/mL级硒的测定结果,并对全反射X荧光分析技术中的一些问题进行了讨论。 相似文献
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硅中掺杂元素砷的三维微分析 总被引:3,自引:0,他引:3
利用同步辐射X光微区分析和全反射X射线荧光分析技术测定了硅中掺杂元素砷浓度的三维分布,其中深度剖面分布的测定结果与二次离子质谱进行了对照,两的一致性是比较满意的。 相似文献
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掠射技术与X射线荧光分析 总被引:2,自引:0,他引:2
掠射技术引入X射线荧光分析成为一种新的材料及薄膜分析技术。运用此技术命同材料表面及薄膜的密度、厚度、界面粗糙度、成分的深度和剖面分布等各种信息,本文介绍了掠射技术在X射线荧光分析中的应用及近年来的发展和前景。 相似文献
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本文介绍了用氧化镁吸收油热分解的制样方法,而后用能量色散X射线荧光分析法测定油中微量元素。该方法避免了复杂的基体效应校正,作者用此方法测定了油中七种元素,其探测限为几个μg/g。 相似文献
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油中微量金属元素的分析在工业、环境、石油、地化等许多领域中都具有重要的意义。在上文“油中金属元素的能量色散X射线荧光分析Ⅰ”中,我们介绍了一种用氧化镁吸收油然后进行热分解的制样方法,采用能量色散X荧光分析技术进行微量元素的测定。该方法避免了复杂的基体效应校正问题,得到了满意的浓度与荧光强度的线性关系。但在油的定量分析中,配制油的系列标准样品是个困难问题。在国内,目前尚无系列有机金属标准可利用,国际上公认的由美国国家标 相似文献
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