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介绍成立浙江省高校化学化工实验教学中心联席会(以下简称:联席会)、举办化学学科(实验)竞赛的背景及发展情况。以联席会和竞赛为载体,建立了全省实验教学研究与改革的交流平台,扩大了实验教学示范中心的影响力和辐射面,推动了实验室建设、课程建设以及人才培养等各项工作,取得了丰硕的教学成果。 相似文献
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本文介绍了3,3’-(苯亚甲基)双吲哚的制备和柱层析分离实验的原理和操作步骤。该实验具有以下特点:(1)反应时间短,30min左右便可完成;(2)产物为粉红色,在进行硅胶板层析和层析柱时比较直观,适合于学生的实验教学;(3)反应物、催化剂和产物的极性相差很大,容易进行柱层析分离产物。该实验特别适合于综合性大学和地方高等师范院校化学和相关本科专业的"有机化学实验"或"综合化学实验"进行开设。 相似文献
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基于计算机仿真技术,以光学干涉实验和滤波实验为研究对象,应用Matlab软件数值模拟了杨氏双缝干涉实验和多光束干涉实验干涉图形和光强分布图,数值模拟了光学滤波实验字母滤波后的频谱图和字母成像图,结果表明,计算机仿真结果能够清晰的表达出实验和理论的效果。研究结果为光学实验的课堂教学提供了参考。 相似文献
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For the X-ray phase contrast imaging system, in addition to the hardware-related parameters, the object-image distance is an important parameter that affects the imaging results. Based on the Fresnel diffraction theory, the X-ray phase contrast formation mechanism is analyzed to find the theoretical relationship between the object-image distance parameter and the image contrast. Through the experimental simulation on a ball model, images with edge enhancement effect and image contrast data were obtained with regard to different object-image distance conditions. The analysis and experimental results show that, clear image information about the edges of the sample structures can be got if the object-image distance parameter is set suitably. 相似文献
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The angular distribution of atoms sputtered from germanium under 1–20 keV Ar+ ion bombardment (normal incidence) has been studied experimentally and using computer simulations. A collector technique combined with Rutherford backscattering to analyze the distribution of collected material was used. In addition, the surface topography was under control. It was found that the experimental angular distribution of sputtered atoms (E 0=3–10 keV) could be approximated by the function cos n θ with n≈ 1.65. Such a high value of n is connected with the surface scattering of ejected atoms and a noticeable contribution of backscattered ions to the formation of the sputter flux (the mass effect). The target surface was found to be practically flat even at ion fluencies ~1018 ions/cm2. The results obtained are compared with data from the literature, including our recent data on Si sputtering. 相似文献