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液晶模板法制备Au纳米线 总被引:12,自引:0,他引:12
利用非离子表面活性剂C12E4的层状液晶作为模板,以氯金酸(HAuCl4)水溶液作为体系的水相和反应物,并利用C12E4中EO基团的还原性制备了Au的纳米线.研究表明,反应物的浓度、液晶体系的组成和反应时间都将影响产物的形貌.在适当条件下,可以得到直径约为20nm,长度达到几微米的均匀金纳米线,并探讨了纳米线形成过程中层状液晶的模板作用. 相似文献
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程虎民 《影像科学与光化学》1985,3(3):20-26
测定了单分散正八面体AgBr乳剂中加入不同量CdBr2和KBr以后的介电吸收频谱。发现Cd2+离子的表面掺杂使正八面体AgBr乳剂的介电吸收峰向低频方向位移。这种变化在CdBr2的加入量为0—2×10-2mol/mol AgBr范围内尤为明显。说明掺杂Cd2+使正八面体AgBr乳剂中AgBr微晶的介电电导率σ2显著下降。能进入AgBr微晶表面层晶格中的Cd2+离子的数量不仅与乳剂中Cd2+离子的浓度有关,而且与乳剂中的Br-离子浓度有关。通过简单的水洗,可以将掺杂的Cd2+大部分除去。水洗后,样品的介电吸收峰又向高频方向回移。在本实验条件下,Cd2+离子掺杂的这种“可逆性”表明进入AgBr微晶中的Cd2+离子主要是处在AgBr微晶的表面层内。样品介电吸收峰频率位置的这种可逆变化表明:非均匀电介质中的界面极化效应在保持连续相不变时,受分散相颗粒表面层物质的组成和结构的影响很大。 相似文献
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本文制备了一系列结构不同的片状卤化银晶体,用扫描透射电子显微镜和X射线能谱仪相结合的方法对单个微晶进行了亚显微结构分析。半定量地测定了碘离子在不同结构的片状晶体中的分布,同时测量了各样品相应的介电损耗、Dember效应的光电压及高低照互易律失效。结果表明,在四种碘离子分布不同的片状卤化银晶体中,其微晶的离子电导率、高低照互易律失效、Dember效应的光电压衰减都随微晶中碘离子的分布不同而异,而且与乳剂的感光性能有很好的对应关系。 相似文献
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本文研究了用1×10-5mol~1×10-2mol Na2S2O3/mol AgBr和1×10-4mol~1×10-2mol Na2S/mol AgBr掺杂的立方AgBr乳剂的介电吸收频谱.发现在我们的实验条件下,当Na2S2O3的加入量小于1×10-4mol/mol AgBr时,Na2S2O3,在AgBr微晶上吸附的影响占主要,样品介电吸收峰的fmax稍向低频方向位移,fmax位移量(△log fmax)的大小与AgBr微晶的表面状况有关.当Na2S2O3的加入量大于1×10-4mol/mol AgBr时,Na2S2O3对AgBr微晶表面的溶蚀的影响逐渐占优势,使AgBr微晶表面的结构不均匀性增加,同时乳剂的pAg上升,结果样品的fmax逐渐向高频方向移动,介电吸收峰亦相应展宽.Na2S的加入量小于1×10-3mol/mol AgBr时,样品的fmax有稍向低频位移的趋势.当将掺Na2S的样品干燥后在75℃和110℃下放置6小时后,fmax明显向高频方向移动. 相似文献
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程虎民 《影像科学与光化学》1983,1(4):14-18
本文测定了用0.1—2.0mool%的I-进行表面掺杂的单分散立方AgBr乳剂的介电吸收谱。经分析证实,在本实验掺杂浓度范围内,99%以上的I-取代了AgBr微晶表面层晶格上的Br-。随I-掺杂量的增大,样品的介电吸收峰明显向高频方向位移。当掺杂量为1mol%时,样品的介电吸收峰频率已很接近纯AgI乳剂的介电吸收峰频率。继续增大掺杂量,则介电吸收峰不再向高频方向位移。 由上述结果可以看到,在连续相介质保持不变的条件下,由界面极化效应产生的介电吸收峰的形状和频率位置受分散相颗粒表面层物质的组成与结构影响很大。用I-对AgBr微晶进行表面掺杂,可以使AgBr微晶的表面电导率明显增大。 相似文献
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水热条件下形成的PLZT固溶体的X射线分析 总被引:3,自引:1,他引:2
用X射线分析研究了不同水热条件下(130~220℃,CKOH=1~5mol/L,Zr/Ti=0/10~10/0,Pb/(Zr+Ti)=1.0~1.7,x(La)=0~20%)四元系PLZT固溶体的形成,La(3+)在上述水热条件下不易进入固溶体晶格取代A位的Pb(2+)或B位的Zr(4+)和Ti(4+),而可能存在于晶界处或被吸附在颗粒的表面上,通过热处理逐渐进入晶格。在固溶体的四方相区易发生A位取代,使晶胞收缩,轴比减小.在三方相区可能同时发生A位与B位取代,晶胞体积稍有缩小.La(3+)的存在有利于三方-四方同质异构相界区固溶体的形成。反应温度和矿化剂KOH的浓度对产物固溶体的形成及其形貌有重要影响。 相似文献
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