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批量生产中经常发生的锑化铟(InSb)芯片碎裂问题制约着InSb红外焦平面探测器(IRFPAs)成品率的提升.经分析认为:低周期液氮冲击下发生在器件边沿区域的InSb芯片破碎与该区域中迸溅金点的存在有关.为从理论上明晰迸溅金点对InSb芯片局部碎裂的影响,本文建立了包含迸溅金点的InSb IRFPAs结构模型,分析了迸溅金点的存在对应力分布的影响.在此基础上,在应力集中处预置不同长度的初始裂纹用以描述InSb晶片中的位错,以能量释放率为判据,探究InSb芯片碎裂与迸溅金点和位错线长短的关系.结论如下:1)迸溅金点的存在对InSb芯片碎裂的影响是局部的,在迸溅金点与InSb芯片接触区域的两侧会形成两个应力集中点; 2)环绕预置裂纹的能量释放率会随着预置裂纹长度的增加而加速增大,当预置裂纹长度接近InSb芯片上表面时,能量释放率近乎指数增加,并在预置裂纹贯穿InSb芯片时达到最大值; 3)迸溅金点引起的InSb芯片破碎属于Ⅰ型断裂失效模式,在多周期液氮冲击中,位错线在应力集中效应的驱使下逐步扩展,直至贯穿InSb芯片,最终形成宏观碎裂失效现象. 相似文献
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高通量微孔板DAMBO-P~H荧光检测一氧化氮 总被引:1,自引:0,他引:1
一氧化氮(NO)是生物体内的一种重要生物信号传导分子,广泛参与生物体内多种生理及病理过程.为建立快速高效、准确检测生物体释放NO的分析方法,本文选用高灵敏度、高选择性的NO特异性荧光探针8-(3,4-diaminophenyl)-2,6-bis(2-carboxyethyl)-4,4-difluoro-1,3,5,7-tetramethyl-4- bora-3a,4a-diaza-s-indacene (DAMBO-P~H),激发波长和发射波长分别为520 nm和535 nm,以高通量微孔板(384孔)作为实验工具载体.该方法荧光强度与NO浓度在8.0×10~(-10)~8.0×10~(-7) mol·~(-1)范围内呈良好线性关系,R=0.9989,检出限为0.18 nmol·~(-1),回收率为98%~102%.该方法应用于多种生物样品中释放NO的分析检测,结果令人满意. 相似文献
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分析了新课程标准中环境教育的理念,结合化学教学中环境教育的实践,从教育观念、内容、方法等方面提出了新课程教学中实施有效环境教育的对策。 相似文献
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渗透蒸发脱盐的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
将选择性透过膜和汽化相结合的分离过程是当前的研究热点,其中采用低热导率、疏水性多孔膜的过程称膜蒸馏,而采用非多孔性半透膜的过程则称渗透蒸发。将该分离过程用于盐水脱盐已有很多报道,并已建成中试设备,但采用的大多是膜蒸馏,所用膜的成本很高。本文研究制了一种价廉并带有致密层的非对称性含钠离子聚乙烯醇(PVA)-聚乙二醇(PEG)分离膜,并用该膜对渗透蒸发脱盐进行了初步研究。 1 实验 1.1 膜制备 将一定配比的PVA与PEG及钠盐水溶液在适当温度下混溶,加入适量醛类交联剂,数分钟后在选定的基材上流涎成膜,室温下自然晾干,再经35℃~50℃控温红外线干燥。 1.2 膜结构及脱盐流程 扫描电镜拍摄的膜断面形貌图像(图1)表明,该膜为非对称膜,表层厚约13μm,其中厚约2~3/μm的上表层为疏松结构,下表层为致密结构。将该类膜用于3.5%NaCl水溶液脱盐,运行4h后再漂洗、干燥作断面Na元素波谱线分析(图2)发现,在膜下层(右侧)厚约30μm层内检测不到Na元素。脱盐流程见文献。 相似文献
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介绍了法国METRAVIB公司MAK-04型粘弹谱仪在测试过程中关于高频相位角校准出现较大偏差的原因分析及解决过程. 相似文献
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以乙二醇、环氧氯丙烷、三甲胺、三乙胺、三乙醇胺、H4SiW12O40、H3PW12O40为起始原料,经开环聚合、季铵化、分子自组装,构建了系列羟基官能化聚醚杂多酸聚离子液体HPIL-1~HPIL-6。聚离子液体兼具两亲活性、酸催化活性和氧化催化活性,以其为非均相催化剂,实现了油酸连续酯化、环氧化合成环氧油酸甲酯。当原料比n(甲醇)∶n(H2O2)∶n(油酸)∶n(聚离子液体)=500∶120∶40∶1,室温下酯化反应2.5h, 65℃下环氧化反应4h,环氧油酸甲酯产率92%。聚离子液体经离心分离、溶剂洗涤、真空干燥即可再生循环使用,循环使用5次,催化活性基本保持不变。 相似文献
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液氮冲击中In Sb面阵探测器的易碎裂特性制约着探测器的成品率,建立适用于面阵探测器全工艺流程的结构模型是分析、优化探测器结构的有效手段.本文提出了用底充胶体积收缩率来描述底充胶在恒温固化中的体积收缩现象,同时忽略固化中底充胶弹性模量的变化来建立底充胶固化模型,给出了底充胶在恒温固化中生成的热应力/应变上限值.借鉴前期提出的等效建模思路,结合底充胶固化后的自然冷却过程和随后的液氮冲击实验,建立了适用于In Sb面阵探测器全工艺流程的结构分析模型.探测器历经底充胶固化、自然冷却至室温后的模拟结果与室温下拍摄的探测器形变分布照片高度符合.随后模拟液氮冲击实验,得到面阵探测器中累积的热应力/应变随温度的演变规律,热应力/应变值极值出现的温度区间与液氮冲击实验结果相符合.这表明所建模型适用于预测不同工艺阶段中面阵探测器的形变分布及演变规律. 相似文献