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861.
862.
This paper studies the free bending vibration of elliptical column partialy submerged in water. It is the first time that we get an exact solution of the function of normal mode of vibretion of column-water couple system and a corresponding frequency equation denoted by limited order determinant. It points out that the effect of water is equivaient to an attached distributive mass. Therefore, the frequency with water is lower than that without water. 相似文献
863.
往复条件下织构表面的摩擦学性能研究 总被引:7,自引:1,他引:7
为研究往复运动条件下织构表面的润滑减摩性能,选取销-盘式摩擦副,考察了0%、7%、11%和20% 4种织构密度在不同的速度下对摩擦系数的影响规律。结果表明:表面织构的引入使摩擦副在较低的速度下进入流体润滑区域,扩大了流体润滑区域的范围,这与摩擦副在相对转动条件下的结论一致;处于流体润滑区域的织构表面的摩擦系数不一定小于同等工况条件下处于混合润滑区域的无织构表面的摩擦系数;当无织构表面处于流体润滑区域时,试验所涉及的同等工况条件下的不同织构密度表面反而增大了摩擦系数。研究结果也说明了在对表面织构进行摩擦学设计时,应当考虑摩擦副的运动形式因素。 相似文献
864.
利用泊松网格优化算法设计了激光束整形自由曲面透镜,通过4次迭代,目标面的网格分布就接近于最优分布。使用该最优的目标面网格,基于输入光束与输出光束之间的能量映射关系,计算自由曲面各采样点的法向矢量,基于泊松面形构建算法获得自由曲面矢高,从而构建自由曲面透镜。为了验证所提方法的可行性,针对正方形目标面和矩形目标面分别设计了自由曲面透镜,这两种透镜在目标面上的辐射照均匀度分别达到91%和93%。为了验证自由曲面的平滑性,使用一个6阶9项多项式进行拟合,拟合后的均方根误差达到1.394×10-3,表明所设计的自由曲面具有很高的平滑度。使用拟合数据建立自由曲面透镜,其目标面辐照均匀度几乎保持不变。采用随机统计分析方法对自由曲面透镜装配公差进行分析,结果表明在给定的公差范围,大部分样本的辐照均匀度保持在88%左右。 相似文献
865.
866.
以7-二乙氨基香豆素为荧光基团,设计并合成了一种香豆素酰腙类荧光探针CPS。研究结果表明,在甲醇溶液中,探针CPS对Cu2+呈特异性的荧光猝灭响应,且与Cu2+形成分子比为2∶1的络合物CPS-Cu2+。此络合物作为荧光传感器实现了草甘膦的特异性识别,具有较高的灵敏度,检出限可低至64.8 nmol/L (10.95 ng/mL)。通过Job′s plot曲线、摩尔比法及质谱等手段,推测了荧光传感器检测草甘膦的作用机制。实际水样的加标回收实验证明了此荧光传感器检测草甘膦具有良好的实用性。 相似文献
867.
为了准确评估制造型中小企业的综合质量水平并解决其生产经营管理中存在的问题,文章提出基于组合赋权VIKOR法的中小企业综合质量评估方法.参照质量管理体系要求,结合制造型中小企业的特点,设计了包含质量认证、质量监管、创新及发展能力、财务质量、社会声誉五个维度的综合质量评估指标体系,并使用改进后的信息重叠指标筛选方法优化指标;结合AHP和CRITIC法进行指标权重赋值,并应用VIKOR法计算中小企业利益比率值,实现中小企业综合质量评估.选取电子行业119家中小企业为例,采用文章提出的综合质量评估方法进行实证研究,研究结果表明基于文章提出的综合质量评估方法的结果与样本企业质量发展的客观现状具有良好的一致性,验证了文章方法的有效性. 相似文献
868.
随着金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)器件等比例缩小至纳米级的较小尺寸,一方面导致的短沟道效应已严重影响热噪声;另一方面使栅、源、漏区及衬底区的热噪声占有比越来越高,而传统热噪声模型主要考虑较大尺寸器件的沟道热噪声,且其模型未考虑到沟道饱和区.本文针对小尺寸纳米级MOSFET器件,并根据器件结构特征和热噪声的基本特性,建立了10 nm器件的热噪声模型,该模型体现沟道区、衬底区及栅、源、漏区,同时考虑到沟道饱和区的热噪声.在模型的基础上,分析沟道热噪声、总热噪声随偏置参量及器件参数之间的关系,验证了沟道饱和区热噪声的存在,并与已有实验结果一致,所得结论有助于提高纳米级小尺寸MOSFET器件的工作效率、寿命及响应速度等. 相似文献
869.