全文获取类型
收费全文 | 4058篇 |
免费 | 1580篇 |
国内免费 | 982篇 |
专业分类
化学 | 1421篇 |
晶体学 | 288篇 |
力学 | 474篇 |
综合类 | 183篇 |
数学 | 114篇 |
物理学 | 4140篇 |
出版年
2024年 | 28篇 |
2023年 | 117篇 |
2022年 | 105篇 |
2021年 | 155篇 |
2020年 | 97篇 |
2019年 | 181篇 |
2018年 | 131篇 |
2017年 | 179篇 |
2016年 | 212篇 |
2015年 | 209篇 |
2014年 | 418篇 |
2013年 | 325篇 |
2012年 | 301篇 |
2011年 | 291篇 |
2010年 | 340篇 |
2009年 | 361篇 |
2008年 | 460篇 |
2007年 | 302篇 |
2006年 | 239篇 |
2005年 | 298篇 |
2004年 | 251篇 |
2003年 | 253篇 |
2002年 | 189篇 |
2001年 | 170篇 |
2000年 | 131篇 |
1999年 | 126篇 |
1998年 | 100篇 |
1997年 | 83篇 |
1996年 | 85篇 |
1995年 | 68篇 |
1994年 | 61篇 |
1993年 | 77篇 |
1992年 | 67篇 |
1991年 | 50篇 |
1990年 | 61篇 |
1989年 | 47篇 |
1988年 | 14篇 |
1987年 | 13篇 |
1986年 | 11篇 |
1985年 | 3篇 |
1984年 | 2篇 |
1983年 | 2篇 |
1982年 | 3篇 |
1980年 | 1篇 |
1979年 | 1篇 |
1951年 | 2篇 |
排序方式: 共有6620条查询结果,搜索用时 15 毫秒
71.
基于半导体材料的新型光纤温度传感器 总被引:1,自引:0,他引:1
提出利用全反射定律以半导体材料作为敏感器件的光纤温度传感器,着重阐述半导体材料的温度敏感特性及传感原理,介绍传感器构造,并给出初步实验方案。 相似文献
72.
73.
74.
温度计是测量温度的仪器,测量温度是通过观察随着温度变化的某种客观物理量来实现的。所选取的物理量可以是各种各样的,如固体的线度、液体的饱和气压、半导体的电阻率、被测对象的热辐射。中学物理教学中常用的温度计是玻璃液体温度计,它利用液体(测温工质)的体膨胀测量温度。但是贮存液体的玻璃泡也会膨胀,因而测温工质与玻璃的体胀系数β差别越大,温度计就越灵敏。比如水银温度计,体胀系数β=0.182×10-3℃-1。玻璃的体胀系数β的范围是(8~10)×10-6℃-1>。可见,我们使用水银温度计时,系统误差很小,测量就精确。 相似文献
75.
Origin of the Downturn in Inverse Susceptibility Observed above the Curie Temperature in Perovskite Manganites 下载免费PDF全文
The measurement of low-field susceptibility X as a function of temperature T for La2/3Ca1/3MnO3 shows a significant downturn in 1/X(T) above the Curie temperature Tc, a behaviour generally observed in perovskite manganites. Such a downturn is argued to be due to the segregation of ferromagnetic clusters with larger spins in the paramagnetic matrix. Based on this consideration, a phenomenological expression for X(T) is proposed,in which the total susceptibility is assumed to be a sum of two susceptibilities arising from magnetic entities in the PM background and the FM clusters with T-dependent effective spins, respectively. The result is in good agreement with the experimental data obtained in La2/3Ca1/3MnO3. 相似文献
76.
后退火温度对溅射沉积Pb(Zr0.52Ti0.48)O3铁电薄膜结构和性能的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
在具有Ti缓冲层的Pt(111)底电极上,用射频溅射工艺在较低的衬底温度(370℃)和纯Ar气氛中沉积Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)薄膜,沉积过程中基片架作15°摇摆以提高膜厚的均匀性。然后将样品在大气中进行5min快速热退火处理,退火温度550-680℃。用XRD、SEM分析薄膜的微结构,RT66A标准铁电测试系统测量样品的铁电和介电性能。结果表明,所沉积的Pt为(111)取向,仅当后退火温度高于580℃,沉积在Pt(111)上的PZT薄膜才能形成钙钛矿结构的铁电相,退火温度在580-600℃时结晶为(110)择优取向,退火温度高于600℃时结晶为(111)择优取向。PZT薄膜的极化强度随退火温度的升高而增加,但退火温度超过650℃时漏电流急剧上升,因此退火处理的温度对PZT薄膜的结构和性能有决定性的影响。 相似文献
77.
研究了原子化器温度、载气流速、KBH4 浓度等条件对流动注射 氢化物发生 原子吸收光谱法 (FI-HG -AAS)测定硒时的影响。建立了FI-HG -AAS测定大米中硒的分析方法。在优化的工作条件下 ,测定硒的最低检测浓度为 0 3 3 μg·L- 1,线性范围为 0~ 5 0 μg·L- 1,相对标准偏差小于 4% ,加标回收率为 94%~ 1 0 2 %。本法克服了传统的间断氢化物发生 原子吸收光谱法分析速度慢、样品耗量大、操作繁琐且因手工进样在进样速度和进样体积上容易带来误差等缺点。方法操作简便、快速 ,灵敏度及自动化程度高 ,已广泛应用于大米及富硒大米中微量硒的测定 相似文献
78.
79.
光电编码器温度漂移与补偿方法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文对光电编码器的温度漂移与补偿问题进行了讨论.在理论分析与实验的基础上,提出了一种理想的温度补偿方法. 相似文献
80.