气相平衡扩散法制备β-BBO薄膜

用气相平衡扩散(VTE)法在α-偏硼酸钡单晶衬底上成功地制备出β-偏硼酸钡薄膜.使用X射线衍射技术(XRD)测试了样品的衍射峰,并比较了不同温度、不同保温时间、不同衬底方向对薄膜的影响.     

溶胶-凝胶法制备MgxZn1-xO及其特性

采用溶胶-凝胶法制备了不同组分(x=0.1～0.3)的MgxZn1-xO前驱体,并对它进行不同温度的热处理(550℃～1000℃).X射线衍射(XRD)结果表明,Mg0.1Zn0.9O具有和ZnO一样的衍射谱,为六方纤锌矿结构,而且随着热处理温度的升高,ZnO衍射峰的强度逐渐增强,半高宽不断减小;Mg元素掺杂浓度增大后,出现了MgO的峰位.扫描电子显微镜(SEM)显示Mg0.1Zn0.9O晶粒粒径分布较均匀;热处理温度升高,晶粒的尺寸不断变大.用室温荧光光谱(PL)分析了经过550～1000℃热处理获得的Mg0.1Zn0.9O粉末,结果发现除了550℃下处理的样品,其它都有紫外发射峰(350nm左右),而且随着热处理温度的升高紫外峰有明显的蓝移现象.     

掺铈硅酸钆闪烁晶体的研究进展与发展方向

本文综述了铈离子掺质硅酸钆(Ce:Gd2SiO5)闪烁晶体的结构、闪烁性能、闪烁机理及晶体生长的研究现状,重点讨论了Ce:GSO闪烁晶体生长的研究进展;提出了硅酸钆闪烁晶体未来研究发展的几个方向为:大尺寸晶体的生长、高光输出的研究、混合型硅酸钆晶体的研究等.     

VTE法制备γ-LiAlO2/α-Al2 O3复合衬底以及腐蚀和退火对其影响

通过气相传输平衡法(VTE)制备了γ-LiAlO2/α-Al2O3复合衬底,使用5;的稀盐酸对其进行腐蚀并在900℃退火72h.利用X射线衍射、偏光显微镜及扫描电镜对复合衬底进行了分析,发现在白宝石a面(11-20)和γ面(1-102)均获得单相多晶的γ-LiAlO2,且后者的择优取向好于前者.腐蚀可以提高样品的择优取向,在5;的稀盐酸中,时间控制在2min左右可获得较好的结果.退火后γ-LiAlO2颗粒质量得到改善,白宝石a面上γ-LiAlO2的质量优于r面上的γ-LiAlO2,两者都出现颗粒长大现象.     

γ-LiAlO2晶体的生长及掺镓研究

由于与GaN晶格失配小(约1.4;),γ-LiAlO2单晶有望成为GaN外延衬底材料.本文首先使用提拉法生长出了尺寸达φ45×50mm3的γ-LiAlO2单晶,然后采用Ga2O3作为掺杂剂,仍用提拉法生长出了三种不同掺镓浓度的LiAl1-xGaxO2(x=0.1,0.2,0.3)晶体,并用X射线粉末衍射(XRPD)分别对晶体及坩锅中剩余的熔体的成份进行了表征.结果表明LiAl-xGaxO2(x=0,0.1,0.2,0.3)晶体归属于γ-LiAlO2结晶结构,Ga3+离子部分地取代Al3+离子,发生分凝且分凝系数小于1.     

r面白宝石单晶的温梯法生长及缺陷研究

本文描述使用温梯法(TGT)生长(1102)方向的白宝石单晶,应用X射线双晶摇摆曲线(XRC)测定了晶体内部的完整性,再利用KOH熔体腐蚀出样品的r面(1102)上的位错蚀坑,借助扫描电子显微镜(SEM)进行观察,发现r面白宝石的位错腐蚀坑呈等腰三角形,并且有台阶状结构,并分析了位错的成因.     

构建基于rGO/AuNPs的电化学检测平台及其在双酚A检测中的应用研究

本实验以电沉积法和滴涂法制备还原氧化石墨/金纳米颗粒(rGO/AuNPs)电化学传感器用于BPA的痕量测定。首先以GO为原料，以维生素C为还原剂，一步法合成rGO。对合成材料进行扫描电镜、X射线衍射、紫外可见吸收光谱和傅里叶红外变换光谱的表征。采用IT计时电流电位法将纳米金粒子沉积于玻碳电极(GCE)表面，然后将rGO滴涂于AuNPs修饰的玻碳电极表面，依次采用循环伏安法和交流阻抗谱法对制备的传感器进行表征。探讨了不同因素对实验结果的影响，在优化实验条件下，当BPA浓度在10～400μmol·L^-1时，其浓度与峰值电流具有很好的线性关系，检出限低至1.9×10^-7 mol·L^-1(S/N=3),样品的平均加标回收率在97.6%～102.4%之间。     

偏振光学显微成像技术在高分子结晶结构表征中的应用

光学成像技术是最为直观的一种表征手段,借助光学显微镜,根据物质、材料和光的相互作用,能够直接观察肉眼难以获得的微观结构信息.借助偏振光,又能看到在普通显微镜明场下无法观察到的晶体双折射等光学性质.本文主要介绍几种光学显微镜在高分子结晶表征方面的应用,从光通过偏振器件及样品的角度出发,介绍偏光显微镜、PolScope系统以及Müller矩阵显微镜的基本工作原理和在高分子结晶方面的应用研究,结合具体案例,阐述这些技术如何揭示高分子晶体的微观结构,并简述一些基础的操作要点及注意事项.依据晶体的双折射特点,偏光显微镜提供了晶体厚薄、取向等结构信息和晶体生长速率等动力学信息.但是偏光显微镜的透射光强是晶体双折射和主折射率方向的方位角两者耦合的结果,而拥有可变偏振方向的PolScope系统则可以进一步精确测得双折射的光程差及晶体主折射率方向的方位角. Müller矩阵显微镜则通过检测经过样品前后的圆偏振光变化来获得样品更为丰富的光学信息,如线性双折射、圆双折射、线性二色性和圆二色性等.