差分吸收法测量大气压强的误差研究

用级数近似Ｖｏｉｇｔ函数，导出了水平和垂路径吸收系数随压强变化的解析式。分析用数值模拟差分吸收法测量大气压强时激光频移和带宽的影响，计算表明前者是测压误差的主要来源之一。     

黑体辐射的温度敏感性

导出理想黑体辐射强度的相对变化与温度的相对变化之比的一般形式,并给出一般的计算方法和结果。由此讨论理想黑体光谱和带辐射强度的温度敏感特性及其对温度遥感等的意义。     

在点正则变换下双原子分子的广义Hulthén势映射至P(o)schl-Teller Ⅰ势

利用在点正则变换下形状不变势的映射方法,找出了该问题需要的点正则变换,建立了双原子分子的广义Hulthén势和Pschl-Teller Ⅰ势之间的关系,并由Pschl-Teller Ⅰ势的束缚态能级和波函数,方便地求得了广义Hulthén势的束缚态能级和波函数.     

相遇概率问题新解及推广

在关于概率应用的研究性学习中,我们在了解了几何概型的特点之后,对这样一个问题产生了兴趣,并用两种方法予以解决.问题甲乙两人约会在0时-1时到某地约会,先到的人要等后来的人20分钟,若两人在这一个小时内任意时刻来的可能性是相同的,且两人来的时间相互独立,求他们能见面的概率.     

Al2O3吸附[Cu(H2O)6]2+基团的自旋哈密顿参量和四角畸变

采用微扰方法和对角化完全能量矩阵法计算了Al₂O₃粉末吸附的四角对称[Cu(H₂O)₆]²⁺基团的自旋哈密顿参量（g因子g∥,g_⊥和超精细结构常数A_∥和A_⊥）. 计算结果表明用这两种理论方法计算的自旋哈密顿参量很接近,并且都与实验结果比较一致. 表明这2种方法都可用于晶体中3d9离子基团的自旋哈密顿参量的研究,通过计算,我们还获得了[Cu(H₂O)₆]²⁺基团四角畸变的大小,并对结果进行了讨论.     

采用旋流雾室改善ICP-AES和ICP-AFS分析性能的研究

ICP分析的样品引入方式至今仍以液体气溶胶为主。最常用的这类装置为气动式雾化器与雾室的组合体。目前商品化的ICP-AES、ICP-AFS和ICP-MS仪器系统均为同心玻璃雾化器或交叉雾化器或Babington高盐雾化器与锥形雾室或双管(Scott型)雾室结合。样品气溶胶的雾滴粒度分布及单位时间内进入等离子体的分析物质量,是直接影响ICP分析的元素检出限及分析精密度的重要因素。由气动雾化器产生的第一级样品气溶胶通常具有一个宽的雾滴粒度分布。而适应于ICP分析的气溶胶雾滴则要求细且均匀,以保证     

掺稀土元素(Y，La)的γ-Si3N4的电子结构和光学性质

采用基于密度泛函的平面赝势方法(PWP)和广义梯度近似(GGA)，计算了未掺杂和掺杂稀土(Y，La)的γ-Si₃N₄中N-Y(La)键的布居值和它们的键长、掺杂后能带结构和态密度.发现掺杂后的带隙要减小，并且可能形成新的半导体，这将为找到新的半导体提供一个方向.还进一步研究了掺杂稀土(Y，La)后的光学性质，掺杂后有更高的静态介电常数，可以作为新的介电材料和好的折射材料，这对于一定的光学元件有潜在的应用前景.     

平顶光束和平顶涡旋光束对金属瑞利粒子的光学俘获

 使用聚焦平顶光束和平顶涡旋光束,以金为例,对金属瑞利粒子辐射力和俘获稳定性进行了分析,着重研究了拓扑电荷和光束阶数对辐射力的影响。结果表明,随着拓扑电荷和光束阶数的增大,最大光强和辐射力随之减小;平顶光束可以俘获金瑞利粒子,俘获微粒的牢固性和俘获范围随着光束阶数增大而减小,而平顶涡旋光束的梯度力不能作为回复力,因此不能俘获。最后,还讨论了不同光强分布下,俘获金属瑞利粒子时复介电常数需满足的必要条件。