交联补强硅橡胶包埋18-甲基炔诺酮的释放行为

甲基乙烯基硅橡胶;交联补强硅橡胶包埋18-甲基炔诺酮的释放行为;药物释放系统     

聚苯乙烯／丁苯橡胶共混物的相关系

用热释电流法和Ｘ光小角散射观察热压聚苯乙烯／丁苯橡胶合金膜，讨论了其相容性．根据Ｐｏｒｏｄ定律用Ｘ－光小角散射估算了界面层厚度．σｂ（相容区），发现了合金组成与σｂ的关系．用Ｄｅｂｙｅ－Ｂｕｅｃｈｅ理论计算了相关距离ａｃ和不变量Ｑａｃ代表合金中的相区尺寸并与σｂ关．Ｑ代表电子密度均方起伏η２，用Ｑ值讨论了合金的均匀性．用透射电子显微镜测定了浇铸膜，并探讨了合金的相分布．     

聚对苯二甲酸丙二醇酯(PTT)的研究

新型聚酯材料聚对苯二甲酸丙二醇酯(PTT)是一种极有应用潜力的聚合物，但在非纤维领域的研究与应用才刚开始。本文简要概述了其发展状况；详述其结构、性能特点；重点介绍PTT目前在非纤维领域的应用与研究进展。     

聚合物合金的原位增容

介绍了增容剂的作用和分类,详细描述了不同反应类型的聚合物合金原位反应增容,对利用马来酸酐(MAH)、甲基丙烯酸缩水甘油酯(GMA)等官能团反应的原位增容体系进行了分类介绍,同时给出各种原位增容反应的增容机理。     

聚合物/水混合体系中水的状态和性质的研究

阐述了聚合物/水混合物中水的状态和性质。关于亲水聚合物水溶液中水的状态,目前存在两种模型,间断模型和连续模型。间断模型根据与聚合物相互作用力的强弱,认为混合体系中存在自由水,冷冻键合水和非冷冻键合水。连续模型则认为体系中存在一种状态范围的水,它是介于与聚合物强相互作用的水和不受聚合物影响的水之间的一种连续的状态。介绍了混合体系中水产生反常性质的原因。由于亲水性聚合物材料的广泛应用,有必要对聚合物水溶液体系中不同状态水的含量与性质有更深入的了解。     

小角光散射在线系统研究多相聚合物双螺杆挤出过程中的相尺寸--非相容PE/PA1010体系

利用可视化双螺杆挤出机———光散射在线采集与分析系统对不相容聚合物体系聚乙烯 尼龙 10 10(PE PA10 10 )双螺杆挤出过程进行了在线分析 .相尺寸由Debye理论中的相关距离ac,平均弦长L ,以及分散相平均直径D描述 ,给出了几种参数表征适用的范围 .由在线光散射计算出的平均弦长Lscatt、分散相平均粒径Dscatt与电镜照片计算出的平均弦长LSEM 、分散相平均粒径DSEM 作了比较 ,两者比较符合 .结果表明 ,分散相颗粒尺寸沿螺杆挤出方向逐渐变小 ;随着低组分含量 (PA10 10≤ 5 0 % )的增加 ,分散相颗粒尺寸变大 ,在组成比为 70 30和 6 0 4 0时出现双连续相     

离子凝胶反应法制备壳聚糖/N,O-羧甲基壳聚糖微球

以一氯乙酸与壳聚糖反应形成N,O-羧甲基壳聚糖两性聚电解质,分光光度法测定其等电点IEP=2．86。以此两性聚电解质与壳聚糖可以在一定条件下形成微球,光学显微镜和电子显微镜测试表明,控制两种聚电解质配比可以制备不同粒径大小的微球,而超声功率对微球粒径的影响较小。红外光谱测试表明微球中N,O-羧甲基壳聚糖羧基以羧酸根形式存在,分光光度与电导法联合测定表明两种聚电解质以离子凝胶作用形成微球,其最佳制备条件为IEP（CM-CHITOSAN）〈pH〈pKa（CS）,在此较宽的pH值范围内微球可稳定存在。     

聚苯乙烯及其合金的热释放电流研究

聚苯乙烯及其合金的热释放电流研究盛京，李凤奎，胡静（天津大学材料科学与工程系，天津，３０００７２）关键词聚苯乙烯，聚苯乙烯松弛，热释电谱，聚苯乙烯合金，乙丙橡胶合金用热释放电流（ＴＳＣ）法研究聚苯乙烯（ＰＳ）的松弛过程只见Ｓｈｉｎｉｃｈｉ的报道［１］...     

高密度聚乙烯结晶行为的Rayleigh散射研究

研究了高密度聚乙烯在结晶成核剂──二苄叉山梨醇存在下的Ｒａｙｌｅｉｇｈ散射特征，证明了棒状结晶的存在。讨论了成核剂对结晶的影响，计算了棒晶的棒长和半径。     

光散射在聚合物结构研究中的多重散射现象

实验对激光小角光散射中的多重散射现象进行了定量分析。当入射光被介质散射时，对于表面粗糙的内部不均匀高分子聚集体，背散射信息来自表面散射和介质内部散射两部分。实验表明，表面引起的背散射其散射强度随表面粗糙度增加而增强，当表面粗糙度高达８．６１３μｍ时，背散射几乎全部来自粗糙表面而内部不均匀性引起的散射极弱。随表面粗糙度降低，表面散射降低，内部散射增强，当表面粗糙度小到０．２３７μｍ时，表面散射小到可以忽略的程度而认为背散射全部来自介质内部，此时的散射可以看作完全是介质内极化率起伏引起的并可由此计算介质内部不均匀结构参数对于表面光滑试样（表面粗糙度小到０．２３７μｍ），背散射信息为第一次、第三次、第五次等奇数次散射的加和。实验发现随试样厚度增加，背散射光强分布基本不发生变化，表面第三次及以后的各次散射比第一次散射弱得多而可以达到忽略的程度，因些背散射强度与散射介质厚度无关