高重复频率飞秒激光对面阵CCD的干扰和破坏

 采用800 nm，100 fs的超短脉冲激光器对硅面阵CCD进行辐照实验，观测到饱和、串扰以及永久性损伤等多种可能造成成像器件失效的现象，特别是在激光能量较高时，发现CCD在成像时出现了黑白屏的现象。在飞秒激光器以1，10和1 000 Hz工作的条件下，分别测量了硅面阵CCD的饱和阈值、串扰阈值和破坏阈值。对破坏后的CCD器件进行了显微分析。在1 kHz工作的条件下进行了视场外干扰实验，观察到串扰和全屏饱和的现象。