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本文介绍了一种强度反射式光纤位移传感器,其探头是由几根排列后的光纤构成,其中的一根光纤作为参考光纤。主要分析了参考光纤在该传感器中的独特作用,既提高传感器的稳定性和抗干扰能力,又改善输出信号的线性和增大量程范围。 相似文献
4.
用光栅衍射法测试液体表面张力 总被引:1,自引:0,他引:1
利用π型直线状振源,在待测液面产生正弦形表面驻波,将其作为一种理想的反射式光栅,通过对激光束的衍射,形成线阵衍射光斑.借助LCCD等硬件测试系统及相应的数据采集与处理系统,实时准确地测量液体表面张力。 相似文献
5.
6.
宽视场长焦距离轴三反射镜光学系统的设计 总被引:1,自引:0,他引:1
分析了离轴三反射镜系统成像特性.根据共轴三反射镜光学系统像差理论,确定结构参数的基本计算公式.设计了长焦宽视场的离轴三反射镜光学系统,分析了系统结构参量对像差的影响.结果表明,该系统视角较大,地面复益范围较宽,成像质量接近衍射极限. 相似文献
7.
本文利用电畴的双折射随电畴的自发极化的取向而异的特性,采用反射式扫描近场光学显微镜,观察了铁电单晶的畴结构。横向分辨率约为50nm。对原有的Topometrix Aurora NSOM系统作了较大的改进。采用音叉(tunning fork)检测光纤探针与样品间的剪切力,取代了原有的光学法振动检测。对硫酸三甘氨酸[NH3CH2COOH)3.H2SO4)](简称TGS)的观察说明,反工扫描近场光学显微镜,适合研究垂直b轴切割的TGS(010)面的自发极化。对这种180极化的多畴,可获得光学衬度较好电畴分布图像。与形貌图像相比,发现电畴与形貌无关。无论是新鲜解理的原子级光滑表面和表面水解的较为粗糙表面均可观察到分布较为均匀的电畴分布。 相似文献
8.
9.
光纤白光干涉法与膜厚纳米测量新技术研究 总被引:6,自引:3,他引:3
运用薄膜光学干涉原理、光纤技术和干涉光谱分析技术,用光纤反射式干涉光谱仪(Reflectromic Interference Spectroscopy)直接测试宽带入射光在单晶硅表面超薄SiO2膜层前后界面反射形成的干涉光谱曲线,并用专业软件对被测光谱信号数据处理后,可直接用公式准确计算出SiO2氧化膜的厚度和光学折射率通过对单晶硅片表面超薄SiO2氧化膜的实测,并与成熟的椭圆偏振仪测试结果相比,测试误差≤2nm但该方法测试简单、快速,精度高,不需要制定仪器曲线和数表,可对薄膜任意位置的厚度在线测试经过对不同厚度聚苯乙烯薄膜的厚度测试表明,该方法适合0.5~20μm薄膜厚度的精确在线测量,测量误差小于7nm. 相似文献
10.
在沙丁机基础上,实现了反射式动态云纹测量法。该法可用于不透明模型的动态位移,应变及应力场的研究。 相似文献