用电阻应变片测量应力强度因子方法的研究

本文利用Ｗｉｌｉａｍｓ应力函数导出的应变场渐进表达式和电阻应变片测量技术，测量张开型（Ｉ型）裂纹尖端附近两点应变来确定应力强度因子ＫＩ。通过对不同裂纹体的测试结果表明，该技术具有较好的适用性。     

霍普金森压杆实验中的磁场干扰

在分离式霍普金森压杆实验中 ,利用贴在钢杆上的电阻应变片测量时 ,经常出现一些不明干扰信号叠加在应变信号上。通过对干扰信号来源的讨论 ,可以确认它是由钢杆的压磁效应引起的。最后还提出了消除这种干扰的有效办法。     

电子秤的结构和工作原理

日常生活中常用电子秤来秤量物体的质量，它以较高的精确度得到大家的信赖．下面就电子秤的结构和原理作些介绍．电子秤主要是由电桥电路及电阻应变式传感器组成，在现代测量技术中常常需要将非电量利用传感器转变成电量后再进行测量．电阻应变式传感器是一种利用金属电阻应变片将应变转换为电阻变化的传感器．它一般分为金属丝式和箔式两类，这里分别介绍其结构和工作原理，其结构如图1、2所示．     

电阻应变效应与电阻应变式传感器

 电阻应变式传感器是直接利用电阻应变片将应变转化为电阻变化的传感器,具有灵敏度高、稳定性好等优点,因此广泛应用于力矩、压力、加速度、重量等测量领域。一、电阻应变效应外力作用于金属或半导体材料,使其发生机械变形,此时金属或半导体材料的电阻值就会随之发生变化,这种现象称为“电阻应变效应”。对于一根金属电阻丝,设其电阻率为ρ、长度为l、横截面积为S,则在未受力时,金属电阻丝的原始电阻为R=ρl/S。当金属电阻丝受到拉力作用时将伸长dl,横截面积相应减少dS,电阻率改变dρ,从而引起金属电阻的变化dR=ρdl/S+ldρ/S-ρldS/S2。     

材料力学实验方法研究

本文论述了材料力学中，利用电阻应变测试技术测试材料剪切模量Ｇ值的方法。     

电桥应力系统在强脉冲中子场中的辐照效应

“电桥法”测量时，将感受应变的电阻应变片作为电桥的一个桥臂黏贴在待测构件上，电阻应变片的阻值及以之对应的电压降随构件的膨胀或收缩发生变化，变化信号通过标定系数转换得到应变信号，并最终转换成需要的应力信号。电桥应力系统原理框图见图1，图1中，R1为应变片电阻，飓，R3和风为精密电阻。与通常使用环境不同，对于脉冲堆这样一个具体对象，由于存在一个瞬时的超强脉冲中子信号，电桥系统的输出并不如预想的那样：理论上，在充分考虑了应变片的热输出后，电桥的输出应该仅与待测构件的膨胀或收缩有关，     

混凝土断裂过程及尺寸效应分析

为研究混凝土裂纹断裂过程和最大承载力计算方法,通过实验机对四种不同尺寸混凝土紧凑拉伸断裂试件进行了加载过程实验,并对其中一个试件进行应变片跟踪测试.由实验结果分析得到了一系列关系曲线,如试件的载荷-加载点位移关系曲线,断裂损伤区变形随载荷变化曲线;并且计算了不同尺寸断裂试件的应力强度因子.结合计算粘聚裂纹应力强度因子的公式与断裂准则,完成了对承载力理论值的计算,并将其与实验峰值平均值进行对比,其结果是两者相比误差较小,表明此种计算裂纹结构最大承载力方法是可行的.     

光子晶体应变片的基本原理

光子晶体是人造的周期性结构材料。作为一种复合材料,各组份的介电性质及其空间排列方式决定了光子晶体具有独特的光带隙性能。光子晶体受力变形后必然会改变各组份的空间排列方式,从而改变其光带隙性能。本文利用数值方法模拟了一维光子晶体承受正应变时对其光带隙性能的影响,发现应变的大小与禁带起始波长及截止波长之间存在简单的线性关系。既通过测量光子晶体的光带隙性能就可以得知应变的大小,从而验证了制造光子晶体应变片的可行性。这种应变片的优点是不需要导线相联,而且没有活动部件。     

正交各向异性材料电阻应变测量的横向效应修正

本文讨论了电阻应变片测量正交各向异性材料应变的横向效应修正。将测量各向同性测量的表观弹性模量、表观泊松比推广应用于正交各向异性材料，得出了一组与广义虎克定律形式上相同的计算式，并讨论了横向效应对应力测量精度的影响。     

应变片技术在动态力学测量中的应用

本文详细讨论了应变片技术,特别是半导体应变片技术在动态力学测量中的若干技术问题,主要有应变片及起动态应变仪的频率响应问题,应变片灵敏系数的动态标定问题。文章指出,随着数据处理微机化的日益普及,半导体材料所存在的非线性特性及拉压不对称性将不再影响到半导体应变片技术的推广使用。相反地,灵敏系数极高这一优良特性将使该项技术获得日益广泛的应用。